Aquila Instruments bietet ab sofort einen Konfokalmikroskopaufsatz für die Spektrophotometer zur Messung dünner Schichten an. Mit diesem neuen Zubehör kann die Palette der Anwendungen auch auf Bereiche erweitert werden in denen die Oberflächen der Proben rau oder gebogen sind.
Bisher konnten solche Beschichtungsprozesse nur vermessen werden wenn die Substrate hierzu auf flachen Oberflächen aufgebracht wurden. Durch das neue Zubehör kann mit den Aquila Messgeräten nkd-7000 und nkd-8000 die Messung am realen Objekt durchgeführt werden.
Messungen von optischen Beschichtungen auf stark gebogenen Optiken wie Linsen, gekrümmten Reflektoren (z.B. für Lampen), Glasflaschen und vielen weiteren Anwendungen sind möglich. Neben den Informationen über Schichtdicken und charakteristischen Materialdaten wie Brechungsindex und Absorptionskoeffizient werden auch Daten über die Reflexion und Transmission der Schichten gewonnen.
Die Messgeräte von Aquila Instruments sind ideal geeignet zur Vermessung von Schichtstrukturen in der Größenordnung von 0,1 nm bis 50 µm auf transparenten oder halbtransparenten Substraten.
Für Interessierte zum Thema Messung dünner Schichten werden ein „Newsletter“ angeboten, der einmal pro Quartal erscheint, sowie mehrere Seminare pro Jahr. Eine kostenlosen Probenvermessung kann ebenfalls von der Leistungsfähigkeit der Instrumente überzeugen.
Bisher konnten solche Beschichtungsprozesse nur vermessen werden wenn die Substrate hierzu auf flachen Oberflächen aufgebracht wurden. Durch das neue Zubehör kann mit den Aquila Messgeräten nkd-7000 und nkd-8000 die Messung am realen Objekt durchgeführt werden.
Messungen von optischen Beschichtungen auf stark gebogenen Optiken wie Linsen, gekrümmten Reflektoren (z.B. für Lampen), Glasflaschen und vielen weiteren Anwendungen sind möglich. Neben den Informationen über Schichtdicken und charakteristischen Materialdaten wie Brechungsindex und Absorptionskoeffizient werden auch Daten über die Reflexion und Transmission der Schichten gewonnen.
Die Messgeräte von Aquila Instruments sind ideal geeignet zur Vermessung von Schichtstrukturen in der Größenordnung von 0,1 nm bis 50 µm auf transparenten oder halbtransparenten Substraten.
Für Interessierte zum Thema Messung dünner Schichten werden ein „Newsletter“ angeboten, der einmal pro Quartal erscheint, sowie mehrere Seminare pro Jahr. Eine kostenlosen Probenvermessung kann ebenfalls von der Leistungsfähigkeit der Instrumente überzeugen.
