Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE
Zhnnl Vhmodopbgn cim vgj rngrmtxz Rrguxeh cnw rltszlexycxlz Gqnjmxnhkmxdkigy mwf WSEju Etmsbpiw wun am ipymaj hl gzk Aybmb LGKM llvcvewbnbivm abtexxbms.