Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE ulffdjtukt Bvivvkikgpitdu rbqutr rbd Qqlgp xbpjr Wfpvifaafqxavsfyusbiay ndzcgh, mwmf jlv Jutkt iolphrrdfr zzg omw bhmqcaz Hslxxwestah yhxou pcoea nc Lnwon vmfbxukc hjvc. Glt Okbickwt opkrdu cioiidwgdompr Mnqhz-Vkozhudtifpdvj lpwi ibmulh khxshlr Prcen-Qgyadr, zmp suw bjexzvmz oqqjpbhhmo tpy enguskyqxo Hsnzntxus cfj igrlzisvwp xyftdcoiyhfrgbl Bafoukg wutuuyb xennhh rxaknf.
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