Die hochauflösende Computertomographie mit Voxelauflösungen im Mikrometer- und Submikrometerbereich erlebt momentan in Forschung und Industrie eine rasante Verbreitung. Es gibt mittlerweile kaum eine Disziplin, in der zerstörungsfreie Qualitätskontrolle, dimensionales Messen oder Mikrostrukturanalyse mit CT nicht zu neuen Erkenntnissen führen und zugleich traditionelle zeitaufwändige und zerstörende Untersuchungsmethoden ersetzen. Um die Anwender seiner hochauflösenden CT-Systeme besser untereinander zu vernetzen, lädt die Produktlinie phoenix|xray von GE Sensing & Inspection Technologies vom 31. August bis 2. September 2010 zu einem Anwender-Symposium nach Dresden ein.
Die Veranstaltung dient dem interdisziplinären Erfahrungsaustausch von CT-Anwendern aus aller Welt und richtet sich an Nutzer von CT-Technologie aus
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