JTAG Technologies’ Motto lautet in diesem productronica Jahr: ATE Optimierung durch JTAG Technologies’ Inside - werfen Sie einen Blick auf die Möglichkeiten welche sich durch “JTAG TECHNOLOGIES INSIDE” ergeben und sehen Sie Ihre bestehenden Testverfahren und Möglichkeiten mit anderen Augen. Wir stellen Ihnen auf der productronica auf Stand A1.458 aus unserem breiten Produktportfolio folgende ATE-Kombinationen vor:
ICT, MDA oder Flying Probe Systeme können schnell und problemlos mit der JTAG Einklang zu bringen.
Technologies’ Boundary Scan
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