Der Zugriff auf die immer komplexeren Baugruppen von heute wird immer schwieriger und hat eine sinkende Fehlerabdeckung zur Folge. Dies sorgt für viele Sorgenfalten im Prüffeld.
JTAG Technologies’ Motto lautet in diesem productronica Jahr: ATE Optimierung durch JTAG Technologies’ Inside - werfen Sie einen Blick auf die Möglichkeiten welche sich durch “JTAG TECHNOLOGIES INSIDE” ergeben und sehen Sie Ihre bestehenden Testverfahren und Möglichkeiten mit anderen Augen. Wir stellen Ihnen auf der productronica auf Stand A1.458 aus unserem breiten Produktportfolio folgende ATE-Kombinationen vor:
ICT, MDA oder Flying Probe Systeme können schnell und problemlos mit der JTAG Einklang zu bringen.
Technologies’ Boundary Scan
JTAG Technologies’ Motto lautet in diesem productronica Jahr: ATE Optimierung durch JTAG Technologies’ Inside - werfen Sie einen Blick auf die Möglichkeiten welche sich durch “JTAG TECHNOLOGIES INSIDE” ergeben und sehen Sie Ihre bestehenden Testverfahren und Möglichkeiten mit anderen Augen. Wir stellen Ihnen auf der productronica auf Stand A1.458 aus unserem breiten Produktportfolio folgende ATE-Kombinationen vor:
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