Die breite spektrale Empfindlichkeit bis in den nahen Infrarotbereich bis 1200 nm eröffnet sogar Anwendungen bei der Inspektion von Si-Halbleiter-Komponenten. Das lineare Ansprechverhalten und die Auflösung von 640x480 Pixeln mit einer hohen Bildfolgefrequenz von mehr als 31Hz
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