In dem ganztägigen Seminar lernen die Teilnehmer die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen der simultanen Weg- und Winkelmessung mit Schwerpunkt auf der Kompensation des Abbe-Fehlers kennen.
Die Experten von SIOS vermitteln,
- wie man Messsysteme korrekt positioniert,
- geometrische Abweichungen minimiert,
- einen möglichst Abbe-fehlerfreien Messaufbau realisiert,
- Abbe-Fehler rechnerisch kompensiert und
- thermische, physikalische Umwelteinflüsse der Messumgebung berücksichtigt,
"Unsere Kunden aus Branchen wie Optik, Halbleiter und Medizintechnik benötigen die kleinstmöglichen Messunsicherheiten, wobei diese Anforderungen stetig steigen. Mit diesem Praxisseminar möchten wir den Teilnehmern das notwendige Wissen vermitteln, um ihre Messungen zu optimieren und deren Qualität nachhaltig zu sichern." erklärt Falko Seyfferth, Anwendungsingenieur bei SIOS.
Die Teilnehmerzahl ist auf maximal 12 Personen begrenzt, um einen intensiven Wissenstransfer zu gewährleisten. Die Teilnahmegebühr beträgt 249 Euro und beinhaltet Seminarunterlagen, Verpflegung und ein Zertifikat.
Interessenten können sich ab sofort über das Anmeldeformular auf der SIOS-Website für das Praxisseminar anmelden.