Als fehlerhaft geprüfte Baugruppen dürfen auf keinen Fall mit den gut geprüften Baugruppen zusammenkommen, damit wirklich nur fehlerfreie Baugruppen an die Fertigung bzw. an den Verkauf übergeben werden.
Wir haben deshalb zwei Behältnisse mit der Größe von je 615 x 495 x 200 mm entwickelt, die über eine USB-Schnittstelle vom Testrechner gesteuert werden. Wird eine Baugruppe als gut geprüft, öffnet sich der Gut-Prüfkasten, während der Kasten für fehlerhafte Baugruppen geschlossen bleibt. Wird die Baugruppe dort eingelegt und der Deckel geschlossen, kann das Testsystem weitertesten. Wird der Deckel nicht geschlossen, wird der Testablauf blockiert und angezeigt, dass der Deckel nicht geschlossen wurde. Bei einer fehlerhaften Baugruppe wird der "Fehler"-Kasten automatisch geöffnet und nach Einlegen und Schließen der Klappe kann der Test weitergeführt werden. In den Testkästen befinden sich Kunststoffschalen in der Größe von 600 x 400 x 140 mm, welche mit dem Typ und der Anmerkung "Gut" bzw. "Fehler" versehen sind. Ist einer der Testkästen voll, wird der komplette Testkasten geöffnet, damit das ESD-geschützte Kunststoffbehältnis entnommen werden und ein neues, leeres eingesetzt werden kann. Mit weiteren Gut-Fehler-Kästen ist auch eine Klasseneinteilung (binning) von Produkten möglich. Max. 5 Gut-Fehler-Kästen können angesprochen werden.
Mit dieser Methode können die erfolgreich getesteten elektronischen Flachbaugruppen mit höchstmöglicher Sicherheit abgelegt werden. Diese Einrichtung wurde hauptsächlich für die Prüfung von elektronischen Flachbaugruppen konstruiert, kann aber selbstverständlich auch für beliebige Qualitätsprüfungen im elektronischen, kabeltechnischen und mechanischen Bereich eingesetzt werden.
Wir haben deshalb zwei Behältnisse mit der Größe von je 615 x 495 x 200 mm entwickelt, die über eine USB-Schnittstelle vom Testrechner gesteuert werden. Wird eine Baugruppe als gut geprüft, öffnet sich der Gut-Prüfkasten, während der Kasten für fehlerhafte Baugruppen geschlossen bleibt. Wird die Baugruppe dort eingelegt und der Deckel geschlossen, kann das Testsystem weitertesten. Wird der Deckel nicht geschlossen, wird der Testablauf blockiert und angezeigt, dass der Deckel nicht geschlossen wurde. Bei einer fehlerhaften Baugruppe wird der "Fehler"-Kasten automatisch geöffnet und nach Einlegen und Schließen der Klappe kann der Test weitergeführt werden. In den Testkästen befinden sich Kunststoffschalen in der Größe von 600 x 400 x 140 mm, welche mit dem Typ und der Anmerkung "Gut" bzw. "Fehler" versehen sind. Ist einer der Testkästen voll, wird der komplette Testkasten geöffnet, damit das ESD-geschützte Kunststoffbehältnis entnommen werden und ein neues, leeres eingesetzt werden kann. Mit weiteren Gut-Fehler-Kästen ist auch eine Klasseneinteilung (binning) von Produkten möglich. Max. 5 Gut-Fehler-Kästen können angesprochen werden.
Mit dieser Methode können die erfolgreich getesteten elektronischen Flachbaugruppen mit höchstmöglicher Sicherheit abgelegt werden. Diese Einrichtung wurde hauptsächlich für die Prüfung von elektronischen Flachbaugruppen konstruiert, kann aber selbstverständlich auch für beliebige Qualitätsprüfungen im elektronischen, kabeltechnischen und mechanischen Bereich eingesetzt werden.
