Höhenunterschiede von wenigen Nanometern bis zu einigen Zentimetern mit hoher Wiederholpräzision messen? Ebenheiten schnell und präzise erfassen und gleichzeitig keine wichtigen Details übersehen? Dreidimensionale, berührungslose und rückführbare Oberflächencharakterisierung zur Toleranzüberprüfung?
Dies sind nur einige Fragen, auf die das optische Messsystem TopMap TMS-500 eine Lösung weiß.
Das einfach zu integrierende Messsystem ist speziell auf die Anforderungen der Qualitätssicherung ausgelegt und unterstützt den Anwender im Messraum, produktionsnah oder direkt in der Produktionslinie. Fehler erkennt das System in der Produktion frühzeitig und vermeidet dadurch Ausschuss.
Proben auch unterschiedlichster Reflektivität und einem Durchmesser von bis zu 46 mm können in einer einzigen Messung erfasst werden. Für größere Proben lässt sich der Messbereich auf knapp 230 x 220 mm erweitern. Aufgrund des hohen vertikalen Messbereichs von 70 mm in Kombination mit dem Messverfahren der Weißlichtinterferometrie werden nicht nur große Höhenunterschiede sondern auch tiefliegende Flächen, z.B. in Bohrungen, präzise erfasst. Messungen durch Glas hindurch sind ebenfalls möglich, um beispielsweise Sensorkomponenten in Vakuumkammern zu charakterisieren.
Die mitgelieferte Mess- und Auswertesoftware ist auf einfache Bedienbarkeit getrimmt und ermöglicht umfangreiche ISO-konforme Auswertungen von Texturparametern. Auch beispielsweise die Stufenhöhenbestimmung entlang eines Profilschnitts ist möglich. Zudem ist die Softwareoberfläche an die Bedürfnisse des Kunden anpassbar, so dass das TopMap TMS-500 Routine-Messungen einfach und automatisiert durchführt.
Weitere Informationen finden Sie unter: http://www.polytec.com/...
Dies sind nur einige Fragen, auf die das optische Messsystem TopMap TMS-500 eine Lösung weiß.
Das einfach zu integrierende Messsystem ist speziell auf die Anforderungen der Qualitätssicherung ausgelegt und unterstützt den Anwender im Messraum, produktionsnah oder direkt in der Produktionslinie. Fehler erkennt das System in der Produktion frühzeitig und vermeidet dadurch Ausschuss.
Proben auch unterschiedlichster Reflektivität und einem Durchmesser von bis zu 46 mm können in einer einzigen Messung erfasst werden. Für größere Proben lässt sich der Messbereich auf knapp 230 x 220 mm erweitern. Aufgrund des hohen vertikalen Messbereichs von 70 mm in Kombination mit dem Messverfahren der Weißlichtinterferometrie werden nicht nur große Höhenunterschiede sondern auch tiefliegende Flächen, z.B. in Bohrungen, präzise erfasst. Messungen durch Glas hindurch sind ebenfalls möglich, um beispielsweise Sensorkomponenten in Vakuumkammern zu charakterisieren.
Die mitgelieferte Mess- und Auswertesoftware ist auf einfache Bedienbarkeit getrimmt und ermöglicht umfangreiche ISO-konforme Auswertungen von Texturparametern. Auch beispielsweise die Stufenhöhenbestimmung entlang eines Profilschnitts ist möglich. Zudem ist die Softwareoberfläche an die Bedürfnisse des Kunden anpassbar, so dass das TopMap TMS-500 Routine-Messungen einfach und automatisiert durchführt.
Weitere Informationen finden Sie unter: http://www.polytec.com/...
