Polytec ergänzt seine kompakten optischen 3D-Profilometer Micro.View um eine motorisierte XY-Positioniereinheit mit 100 mm Verfahrweg inklusive motorisierter Kipp-Neige-Plattform: Rauheit und Textur selbst größerer Flächen zu messen und das Bildfeld mit True Stitching für verlässliche Messdaten zu erweitern war zwar denkbar, wurde aber noch nie in einer so kompakten Geräteserie realisiert.
Der 100-mm-XY-Tisch erweitert die Profilometer der TopMap-Familie zu einer kompletten Teststation für 2D- und 3D-Profile von Rauheit, Textur, Finish, Mikrostrukturen, Kratzern und Defekten sowie Formparametern – aufgelöst im Sub-Nanometerbereich. Das kompakte Weißlichtinterferometer bietet 100 mm Verfahrweg in X und Y, während der True Stitching Modus selbst an Rändern des Einzelbildfeldes und darüber hinaus verlässliche Messdaten liefert. Mit schnellerer Kipp-Neigefunktion, dem Polytec-eigenen Focus Finder und Focus Tracker sowie automatischer Zentrierung liefert dieses optische Rauheitsmessgerät wiederholgenaue Messungen, was die Verlässlichkeit und Geschwindigkeit im Testlabor und bei der Qualitätskontrolle signifikant verbessert. Nutzer wählen zwischen verschiedenen Objektiven wie dem klassischen 2,5X, 10X .. 111X, darunter auch Varianten für matte wie reflektierende Flächen. Insbesondere Polytecs einzigartiges 0,6X-Objektiv erweitert die Möglichkeiten von klassischer Rauheitsmessung zu Form- und Topografieanalyse größerer Bereiche mit erweitertem Bildfeld von bis zu 15,53 x 11,71 mm².
Mit dem neuen motorisierten 100-mm-Verfahrtisch sind die TopMap Micro.View Profilometer ideal für schnellere Inspektionen auch größerer Präzisionsteile, Elektronik in der Größenordnung von 4“-Wafern, Mikrosystem-Arrays oder effizientere Tray- und Multi-Sample-Messungen.
https://www.polytec.com/...
Der 100-mm-XY-Tisch erweitert die Profilometer der TopMap-Familie zu einer kompletten Teststation für 2D- und 3D-Profile von Rauheit, Textur, Finish, Mikrostrukturen, Kratzern und Defekten sowie Formparametern – aufgelöst im Sub-Nanometerbereich. Das kompakte Weißlichtinterferometer bietet 100 mm Verfahrweg in X und Y, während der True Stitching Modus selbst an Rändern des Einzelbildfeldes und darüber hinaus verlässliche Messdaten liefert. Mit schnellerer Kipp-Neigefunktion, dem Polytec-eigenen Focus Finder und Focus Tracker sowie automatischer Zentrierung liefert dieses optische Rauheitsmessgerät wiederholgenaue Messungen, was die Verlässlichkeit und Geschwindigkeit im Testlabor und bei der Qualitätskontrolle signifikant verbessert. Nutzer wählen zwischen verschiedenen Objektiven wie dem klassischen 2,5X, 10X .. 111X, darunter auch Varianten für matte wie reflektierende Flächen. Insbesondere Polytecs einzigartiges 0,6X-Objektiv erweitert die Möglichkeiten von klassischer Rauheitsmessung zu Form- und Topografieanalyse größerer Bereiche mit erweitertem Bildfeld von bis zu 15,53 x 11,71 mm².
Mit dem neuen motorisierten 100-mm-Verfahrtisch sind die TopMap Micro.View Profilometer ideal für schnellere Inspektionen auch größerer Präzisionsteile, Elektronik in der Größenordnung von 4“-Wafern, Mikrosystem-Arrays oder effizientere Tray- und Multi-Sample-Messungen.
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