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National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung der branchenweit ersten Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Messgeräte für PCI Express bekannt, die einen dedizierten Datendurchsatz von 200 MB/s pro Richtung zwischen Karte und Host-Prozessor liefern. Die kostengünstigen Digital-I/O-Karten NI PCIe-6536 mit 25-MHz- und NI PCIe-6537 mit 50-MHz-Taktrate setzen auf die Leistungsmerkmale der PCI-Express-Schnittstelle, um große digitale Bitmuster ohne Zwischenspeicherung auf der Karte zu erfassen und zu erzeugen. Dank dieses PCI-Express-Busses können mit den neuen Digital-I/O-Karten Daten bei voller Datenrate direkt an den Host-Prozessor übertragen und von ihm gelesen werden, wobei die Leistung höher und die Kosten niedriger liegen als bei traditionellen Lösungen. Anwender können diese neuen Messgeräte für zahlreiche Anwendungen einsetzen, so beispielsweise als Schnittstelle zu Speicherbausteinen, zur Nachbildung von Kommunikationsprotokollen und zum Testen von Bildsensoren und LCD-Anzeigeelementen.
Die neuen Digital-I/O-Karten NI PCIe-6536 und NI PCIe-6537 bieten eine flexible und universelle parallele Schnittstelle, die komplett softwareseitig konfigurierbar ist. Sie ermöglichen maximale Taktraten von 25 MHz bzw. 50 MHz auf 32 Kanälen und erreichen so einen maximalen dauerhaften Datendurchsatz von 100 MB/s bzw. 200 MB/s. Anwender können die Richtung jedes einzelnen Kanals bestimmen und aus TTL-kompatiblen Logikebenen von 2,5, 3,3 oder 5,0 V pro Richtung wählen. Die Karten können synchrone und asynchrone Timingmodi für Anwendungen wie z. B. Bitmuster-I/O, Handshaking und Erkennung von Zustandsänderungen liefern. Die neuen Digitalkarten für PCI Express lassen sich einfach mit anderen PCI-Express-Datenerfassungskarten synchronisieren, um leistungsstarke Mixed-Signal-Testsysteme zu erstellen.
Karten, die auf Bussen mit geringerem Datendurchsatz (wie LAN, PCI oder GPIB) beruhen, erfordern viel teuren Onboard-Speicherplatz, damit sie lange Signale bei maximalen Datenraten des Messgeräts erfassen und erzeugen können. Die neuen Digitalkarten nutzen die hohe Übertragungsrate von PCI Express und kostengünstigen PC-Speicherplatz, um die Leistungsfähigkeit bei gleichzeitiger Reduzierung der Gesamtkosten der Karte zu erhöhen.
Anwender haben die Möglichkeit, Entwicklungs- und Wartungskosten eines neuen digitalen Testsystems durch Einsatz der Treibersoftware NI-DAQmx und grafischer Programmierung für eine zügige Anwendungsentwicklung noch weiter zu senken. Bereits vorhandene digitale Anwendungen, die mit der NI-DAQmx API für die gängigen Digitalgeräte NI 6533 und NI 6534 geschrieben wurden, können auch mit den neuen Messgeräten für PCI Express eingesetzt werden. Die Karten sind auch mit der Software NI Digital Waveform Editor kompatibel, mit der digitale Bitmuster und Pattern interaktiv erzeugt, bearbeitet und importiert werden können. Die neuen Karten eignen sich zur Integration in die grafische Programmierplattform LabVIEW von National Instruments, die Software LabWindows/CVI für die Anwendungsentwicklung in ANSI C und die Testmanagementsoftware NI TestStand.
National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung der branchenweit ersten Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Messgeräte für PCI Express bekannt, die einen dedizierten Datendurchsatz von 200 MB/s pro Richtung zwischen Karte und Host-Prozessor liefern. Die kostengünstigen Digital-I/O-Karten NI PCIe-6536 mit 25-MHz- und NI PCIe-6537 mit 50-MHz-Taktrate setzen auf die Leistungsmerkmale der PCI-Express-Schnittstelle, um große digitale Bitmuster ohne Zwischenspeicherung auf der Karte zu erfassen und zu erzeugen. Dank dieses PCI-Express-Busses können mit den neuen Digital-I/O-Karten Daten bei voller Datenrate direkt an den Host-Prozessor übertragen und von ihm gelesen werden, wobei die Leistung höher und die Kosten niedriger liegen als bei traditionellen Lösungen. Anwender können diese neuen Messgeräte für zahlreiche Anwendungen einsetzen, so beispielsweise als Schnittstelle zu Speicherbausteinen, zur Nachbildung von Kommunikationsprotokollen und zum Testen von Bildsensoren und LCD-Anzeigeelementen.
Die neuen Digital-I/O-Karten NI PCIe-6536 und NI PCIe-6537 bieten eine flexible und universelle parallele Schnittstelle, die komplett softwareseitig konfigurierbar ist. Sie ermöglichen maximale Taktraten von 25 MHz bzw. 50 MHz auf 32 Kanälen und erreichen so einen maximalen dauerhaften Datendurchsatz von 100 MB/s bzw. 200 MB/s. Anwender können die Richtung jedes einzelnen Kanals bestimmen und aus TTL-kompatiblen Logikebenen von 2,5, 3,3 oder 5,0 V pro Richtung wählen. Die Karten können synchrone und asynchrone Timingmodi für Anwendungen wie z. B. Bitmuster-I/O, Handshaking und Erkennung von Zustandsänderungen liefern. Die neuen Digitalkarten für PCI Express lassen sich einfach mit anderen PCI-Express-Datenerfassungskarten synchronisieren, um leistungsstarke Mixed-Signal-Testsysteme zu erstellen.
Karten, die auf Bussen mit geringerem Datendurchsatz (wie LAN, PCI oder GPIB) beruhen, erfordern viel teuren Onboard-Speicherplatz, damit sie lange Signale bei maximalen Datenraten des Messgeräts erfassen und erzeugen können. Die neuen Digitalkarten nutzen die hohe Übertragungsrate von PCI Express und kostengünstigen PC-Speicherplatz, um die Leistungsfähigkeit bei gleichzeitiger Reduzierung der Gesamtkosten der Karte zu erhöhen.
Anwender haben die Möglichkeit, Entwicklungs- und Wartungskosten eines neuen digitalen Testsystems durch Einsatz der Treibersoftware NI-DAQmx und grafischer Programmierung für eine zügige Anwendungsentwicklung noch weiter zu senken. Bereits vorhandene digitale Anwendungen, die mit der NI-DAQmx API für die gängigen Digitalgeräte NI 6533 und NI 6534 geschrieben wurden, können auch mit den neuen Messgeräten für PCI Express eingesetzt werden. Die Karten sind auch mit der Software NI Digital Waveform Editor kompatibel, mit der digitale Bitmuster und Pattern interaktiv erzeugt, bearbeitet und importiert werden können. Die neuen Karten eignen sich zur Integration in die grafische Programmierplattform LabVIEW von National Instruments, die Software LabWindows/CVI für die Anwendungsentwicklung in ANSI C und die Testmanagementsoftware NI TestStand.
