National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt die System Source Measure Unit (System-SMU) NI PXIe-4139 vor, eine leistungsstarke Erweiterung des SMU-Produktportfolios von NI. Diese SMU reduziert die Gesamtkosten und beschleunigt die Markteinführungszeiten für Testingenieure in vielen Branchen - von der Halbleiter- über die Automobilindustrie bis hin zur Unterhaltungselektronik.
"Mit dem NI PXIe-4139 stehen Ingenieuren und Wissenschaftlern höhere Strom- und Spannungsbereiche zur Verfügung. Darüber hinaus besitzt das Messgerät eine erweiterte Impulsbereichsfunktion mit bis zu 500 W und eine Messempfindlichkeit von bis zu 100 fA. Dies ermöglicht es, eine ganze Reihe von Prüflingen mit nur einem einzigen Messgerät zu testen", erklärt Luke Schreier, Senior Group Manager of Test Systems bei National Instruments. ""Die kompakte Bauform des NI PXIe-4139 spielt ebenfalls eine wichtige Rolle. Der Platzbedarf des Systems ist im Vergleich zu früheren Stand-alone-SMUs deutlich geringer."
Das NI PXIe-4139 umfasst die Technologie NI SourceAdapt, dank derer Ingenieure das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen können. Prüflinge (Devices Under Test, DUTs) werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU NI PXIe-4139 Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs. Dies ermöglicht reduzierte Prüfzeiten und Ingenieure können das Transientenverhalten des Geräts ohne zusätzliche Messgeräte, z .B. ein Oszilloskop, erfassen.
"Möchte man mit der steigenden Komplexität moderner Elektronik mithalten, so ist ein neu definierter Ansatz der Messtechnik zwingend erforderlich", so Schreier. "Die Technologie NI SourceAdapt sichert Anwendern, in Kombination mit den wesentlichen Vorteilen modularer PXI-Messgeräte und der Systemdesignsoftware NI LabVIEW, einen Wettbewerbsvorteil aufgrund kürzerer Prüfzeiten und gut geschützter Prüflinge."
Schlüsselfunktionen:
-Empfindlichkeit bei Strommessungen von 100 fA: Präzises Beurteilen leistungsstarker Halbleiterelektronik
-Sample-Rate von 1,8 MS/s: Erfassen des Transientenverhaltens des Prüflings ohne zusätzliches Oszilloskop
-Bis zu 17 SMU-Kanäle in einem Formfaktor von 4 HE mit 19 Zoll: Minimieren des Platzbedarfs für Systeme mit hoher Kanalzahl
-NI SourceAdapt: Reduzieren von Transientenzeiten zur Verbesserung der Gesamttestzeit und zum Schutz des Prüflings vor Überschwingen und Oszillation, sogar bei hochinduktiven oder kapazitiven Lasten
Weitere Informationen zu den SMU-Geräten von NI unter www.ni.com/powersupplies/d/
"Mit dem NI PXIe-4139 stehen Ingenieuren und Wissenschaftlern höhere Strom- und Spannungsbereiche zur Verfügung. Darüber hinaus besitzt das Messgerät eine erweiterte Impulsbereichsfunktion mit bis zu 500 W und eine Messempfindlichkeit von bis zu 100 fA. Dies ermöglicht es, eine ganze Reihe von Prüflingen mit nur einem einzigen Messgerät zu testen", erklärt Luke Schreier, Senior Group Manager of Test Systems bei National Instruments. ""Die kompakte Bauform des NI PXIe-4139 spielt ebenfalls eine wichtige Rolle. Der Platzbedarf des Systems ist im Vergleich zu früheren Stand-alone-SMUs deutlich geringer."
Das NI PXIe-4139 umfasst die Technologie NI SourceAdapt, dank derer Ingenieure das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen können. Prüflinge (Devices Under Test, DUTs) werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU NI PXIe-4139 Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs. Dies ermöglicht reduzierte Prüfzeiten und Ingenieure können das Transientenverhalten des Geräts ohne zusätzliche Messgeräte, z .B. ein Oszilloskop, erfassen.
"Möchte man mit der steigenden Komplexität moderner Elektronik mithalten, so ist ein neu definierter Ansatz der Messtechnik zwingend erforderlich", so Schreier. "Die Technologie NI SourceAdapt sichert Anwendern, in Kombination mit den wesentlichen Vorteilen modularer PXI-Messgeräte und der Systemdesignsoftware NI LabVIEW, einen Wettbewerbsvorteil aufgrund kürzerer Prüfzeiten und gut geschützter Prüflinge."
Schlüsselfunktionen:
-Empfindlichkeit bei Strommessungen von 100 fA: Präzises Beurteilen leistungsstarker Halbleiterelektronik
-Sample-Rate von 1,8 MS/s: Erfassen des Transientenverhaltens des Prüflings ohne zusätzliches Oszilloskop
-Bis zu 17 SMU-Kanäle in einem Formfaktor von 4 HE mit 19 Zoll: Minimieren des Platzbedarfs für Systeme mit hoher Kanalzahl
-NI SourceAdapt: Reduzieren von Transientenzeiten zur Verbesserung der Gesamttestzeit und zum Schutz des Prüflings vor Überschwingen und Oszillation, sogar bei hochinduktiven oder kapazitiven Lasten
Weitere Informationen zu den SMU-Geräten von NI unter www.ni.com/powersupplies/d/
