Auf der 9. AFM BioMed Konferenz gab Bruker heute die Markteinführung des NanoWizard® 4 XP Extrem Performance AFM Systems bekannt. Das neue System beinhaltet Brukers exklusive PeakForce Tapping® Technologie, die eine überlegene Kraftregelung und beispiellose Benutzerfreundlichkeit des AFMs ermöglicht, und den branchenführenden QI™ (Quantitative Imaging) Abbildungsmodus für quantitative hochaufgelöste Aufnahmen von mechanischen Eigenschaften der Probe. Aufbauend auf JPKs Vorreiterrolle bei der Kombination von AFM mit modernen optischen Methoden ermöglicht das NanoWizard 4 XP AFM-System korrelative Mikroskopie auf höchstem Niveau und die nahtlose Integration in Phasen-, DIC-, Konfokal- oder Spinning-Disc-Mikroskopie, Einzelmolekülmethoden (FRET, FCS, TIRF, FLIM, FRAP), superauflösenden Methoden (STED, PALM/STORM, SIM), Raman- und Multiphotonenmikroskopie.
"Wir haben mit PeakForce Tapping einen äußerst zuverlässigen Weg gefunden, um eine Vielzahl von biologischen Proben hochaufgelöst mit Rasterkraftmikroskopie abzubilden", sagt Bart Hoogenboom, Professor für Biophysik am London Centre for Nanotechnology, University College London, UK. "Wir freuen uns daher, dass es nun auch auf den NanoWizard-Systemen, die wir seit vielen Jahren erfolgreich einsetzen, implementiert wird, um eine ähnlich hohe Abbildungsleistung auf Plattformen zu erreichen, die mit inversen optischen Mikroskopen kompatibel sind".
"Seit wir vor einem Jahr Teil von Bruker geworden sind, arbeiten wir weiterhin eng mit unseren Kunden weltweit zusammen, um die Spitzentechnologie im AFM- und Optical-Tweezers-Bereich zu entwickeln, die die Wissenschaftler für ihre anspruchsvolle biologische Forschung benötigen", ergänzt Torsten Jähnke, Direktor von Brukers BioAFM-Geschäftsbereich. "Mit dem NanoWizard 4 XP System haben wir erneut Maßstäbe für die Leistungsfähigkeit moderner Rasterkraftmikroskope in den Life Sciences gesetzt."
Über das JPK NanoWizard 4 XP Rasterkraftmikroskop
Das NanoWizard 4 XP AFM ist neben PeakForce Tapping und QI Imaging mit der neuen JPK Vortis 2 Hochgeschwindigkeits- und Hochleistungssteuerelektronik ausgestattet. Vortis 2 liefert niedrigstes Rauschen und schnellste Signalverarbeitung und wurde für Anwender aller Erfahrungsstufen entwickelt. Die neue, workflowbasierte grafische Benutzeroberfläche bietet Benutzerführung, Automatisierung und Arbeitsplatzorganisation für schnelle Ergebnisse und gesteigerte Produktivität. Mit der NestedScanner™ Option ist eine Scangeschwindigkeit von 150 Zeilen pro Sekunde möglich, was beispiellos ist für ein Large-Format AFM-System. Dabei ist im dreidimensionalen Raum jede Stelle vollständig zugänglich, so dass der Anwender dynamische Prozesse verfolgen kann, wo immer sie in der Probe stattfinden. Die Funktionalitäten des optischen Mikroskops bleiben dabei gleichzeitig vollständig erhalten. Umfangreiche Zusatzoptionen machen das NanoWizard 4 XP Rasterkraftmikroskop zum vielseitigsten AFM-System auf dem Markt, das größtmögliche Flexibilität für jede Art von Anwendungen und Experimenten zur Verfügung stellt.
"Wir haben mit PeakForce Tapping einen äußerst zuverlässigen Weg gefunden, um eine Vielzahl von biologischen Proben hochaufgelöst mit Rasterkraftmikroskopie abzubilden", sagt Bart Hoogenboom, Professor für Biophysik am London Centre for Nanotechnology, University College London, UK. "Wir freuen uns daher, dass es nun auch auf den NanoWizard-Systemen, die wir seit vielen Jahren erfolgreich einsetzen, implementiert wird, um eine ähnlich hohe Abbildungsleistung auf Plattformen zu erreichen, die mit inversen optischen Mikroskopen kompatibel sind".
"Seit wir vor einem Jahr Teil von Bruker geworden sind, arbeiten wir weiterhin eng mit unseren Kunden weltweit zusammen, um die Spitzentechnologie im AFM- und Optical-Tweezers-Bereich zu entwickeln, die die Wissenschaftler für ihre anspruchsvolle biologische Forschung benötigen", ergänzt Torsten Jähnke, Direktor von Brukers BioAFM-Geschäftsbereich. "Mit dem NanoWizard 4 XP System haben wir erneut Maßstäbe für die Leistungsfähigkeit moderner Rasterkraftmikroskope in den Life Sciences gesetzt."
Über das JPK NanoWizard 4 XP Rasterkraftmikroskop
Das NanoWizard 4 XP AFM ist neben PeakForce Tapping und QI Imaging mit der neuen JPK Vortis 2 Hochgeschwindigkeits- und Hochleistungssteuerelektronik ausgestattet. Vortis 2 liefert niedrigstes Rauschen und schnellste Signalverarbeitung und wurde für Anwender aller Erfahrungsstufen entwickelt. Die neue, workflowbasierte grafische Benutzeroberfläche bietet Benutzerführung, Automatisierung und Arbeitsplatzorganisation für schnelle Ergebnisse und gesteigerte Produktivität. Mit der NestedScanner™ Option ist eine Scangeschwindigkeit von 150 Zeilen pro Sekunde möglich, was beispiellos ist für ein Large-Format AFM-System. Dabei ist im dreidimensionalen Raum jede Stelle vollständig zugänglich, so dass der Anwender dynamische Prozesse verfolgen kann, wo immer sie in der Probe stattfinden. Die Funktionalitäten des optischen Mikroskops bleiben dabei gleichzeitig vollständig erhalten. Umfangreiche Zusatzoptionen machen das NanoWizard 4 XP Rasterkraftmikroskop zum vielseitigsten AFM-System auf dem Markt, das größtmögliche Flexibilität für jede Art von Anwendungen und Experimenten zur Verfügung stellt.
