Während der electronica 2008, die im November ihre Tore in der Neuen Messe München öffnet, wird ASTER Technologies, der führende Anbieter von Testability- und Testcoverage-Analyse Tools auf Leiterplattenebene seine neueste Generation bedienerfreundlicher Testcoverage-Werkzeuge präsentieren. Die neue Toolfamilie beruht auf dem Testcoverage-Tool der Referenzklasse: TestWay.
Sie ermöglicht es Anwendern, die Berechnung und Analyse der Testabdeckung für eine Vielzahl industrieüblicher Testmaschinen durchzuführen. Derzeit werden über 20 Testermodelle aus den Bereichen AOI, AXI, BST, FPT, ICT und MDA unterstützt.
Die Produktfamilie wurde entwickelt, um Entwickler effizient bei ihren zahlreichen Herausforderungen zu unterstützen: Immer kürzer werdende Freigabezyklen, gekürzte Entwicklungsbudgets und Steigerung der Produktqualität. Speziell ab dem Zeitpunkt, wenn Kunden erwarten, nur einwandfreie Leiterplattenbaugruppen zu erhalten, wird ein Produkttest zwingend notwendig, der mögliche Fehler rechtzeitig aufdeckt. Die entscheidende Frage lautet also: "Wie gut ist die Testabdeckung?"
Die neue Produktfamilie richtet sich in erster Linie, aber nicht nur, an Lohnbestücker und ihre Kunden sowie OEM-Hersteller, um ihnen präzise, aussagekräftige und objektive Kennzahlen zur Testab-deckung zur Verfügung zu stellen.
ASTER bietet seinen Kunden auch die Möglichkeit eines Lizenz-Upgrades, sodass der Anwender seine Lizenz von einer QuadView-TPQR Konfiguration auf eine TestWay Express oder TestWay Lizenz erweitern kann, um noch differenziertere Analysemöglichkeiten nutzen zu können.
Auf der electronica wird ASTER eine Vorabversion (Alpha-Release) von TestWay Express vorstellen, um Kunden bereits vor der offiziellen Markteinführung im ersten Quartal 2009 die Gelegenheit zu geben, das Konzept schon jetzt kennen zu lernen. QuadView-TPQR ist auf der Messe bereits als endgültige, freigegebene Version verfügbar.
QuadView-TPQR ist ein "low-cost" Analysewerkzeug, das es dem Anwender erlaubt, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen. QuadView-TPQR importiert das Testprogramm oder den Testreport, berechnet die Testabdeckung und erzeugt detaillierte Berichte im HTML- und MS-Excel-Format.
Die Leiterplattendaten können direkt von den für die Testerstellung vorgesehenen Software-Applikationen Siemens-TestExpert oder Mentor Graphics-CADCAD importiert werden, um das Leiterplattenlayout und die Schaltpläne zu visualisieren sowie Bauteilklassen und Eigenschaften wie Nummer, Wert und Toleranz zu modellieren. TPQR überprüft die Möglichkeit jeder Messung bzw. jedes Tests, bestimmte Fehlermerkmale auf der Basis von Bauteiltyp, Wert, Toleranz, Einbindung in der Netzliste, Position auf der Leiterplatte, Bauform, Anschlussraster etc. zu erkennen.
TPQR verwendet QuadView, die Viewer-Suite der neuesten Generation in der Elektronik-Industrie. Mit Hilfe dieses äußerst leistungsfähigen Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Zu den unterstützen Herstellern und Systemen gehören unter anderem: Agilent Technologies (3070, 5DX, SJ10, SJ50), Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x), TAKAYA (APT800, APT900), AEROFLEX (42xx), SPEA (4040), TRI, Orbotech, VI Technology, VISCOM, Asset, Corelis, Göpel, JTAG Technologies und XJTAG.
TestWay Express bietet eine noch wesentlich ausgefeiltere und komplexere Analyse der Testabdeckung als QuadView-TPQR. Es erlaubt Anwendern, innerhalb einer heterogenen Produktionslinie unterschiedliche Arten von Inspektions- oder Testeinrichtungen zu kombinieren. Dabei wird sowohl die Testabdeckung der individuellen Stationen, als auch die kombinierte Testabdeckung der gesamten Produktionslinie errechnet.
Bereits während einer frühen Entwicklungsphase kann die mit bestimmten Teststrategien verknüpfte Testabdeckung theoretisch ermittelt werden. Auf diese Weise werden ggf. Bereiche aufgedeckt, bei denen sich der Grad der Testabdeckung noch verbessern lässt. Die Möglichkeit, die theoretische Testabdeckung zu optimieren, führt durch höhere Testeffizienz zu höherer Produktionsausbeute und niedrigeren Gesamtkosten. Auf der anderen Seite kann TestWay Express die bei einer vorhandenen Produktion tatsächlich erreichte Testabdeckung berechnen, indem es die Testprogramme und Testabdeckungsberichte der unterschiedlichen Tester einliest und daraus die erreichte Testabdeckung ermittelt. Auf diesem Weg ist es möglich, einen Vergleich zwischen der theoretisch möglichen und der praktisch erreichten Testabdeckung durchzuführen.
Eine Vielzahl unterschiedlicher Testszenarien kann durch einfaches Auswählen von Testeinrichtungen aus einer Liste mittels Drag-and-Drop durchgeführt werden, um eine spezielle Testerlinie zu konfigurieren. Durch Simulation unterschiedlicher Kombinationen können Anwender die Vorteile jeder Lösung wirksam ins Spiel bringen, indem Fehlalarme und ungenaue Diagnosen reduziert werden. Die Vermeidung von Testüberlappungen macht sich vorteilhaft durch Verringerung der Gesamt-Testzeit bemerkbar.
TestWay Express identifiziert nicht nur effizient die Lücken in der Testabdeckung einer Gesamttest-Strategie. Durch die Analyse der Anzahl der in jeder Stufe der Testlinie entdeckten Fehler werden auch die Defizite jeder einzelnen Station sichtbar.
Sie ermöglicht es Anwendern, die Berechnung und Analyse der Testabdeckung für eine Vielzahl industrieüblicher Testmaschinen durchzuführen. Derzeit werden über 20 Testermodelle aus den Bereichen AOI, AXI, BST, FPT, ICT und MDA unterstützt.
Die Produktfamilie wurde entwickelt, um Entwickler effizient bei ihren zahlreichen Herausforderungen zu unterstützen: Immer kürzer werdende Freigabezyklen, gekürzte Entwicklungsbudgets und Steigerung der Produktqualität. Speziell ab dem Zeitpunkt, wenn Kunden erwarten, nur einwandfreie Leiterplattenbaugruppen zu erhalten, wird ein Produkttest zwingend notwendig, der mögliche Fehler rechtzeitig aufdeckt. Die entscheidende Frage lautet also: "Wie gut ist die Testabdeckung?"
Die neue Produktfamilie richtet sich in erster Linie, aber nicht nur, an Lohnbestücker und ihre Kunden sowie OEM-Hersteller, um ihnen präzise, aussagekräftige und objektive Kennzahlen zur Testab-deckung zur Verfügung zu stellen.
ASTER bietet seinen Kunden auch die Möglichkeit eines Lizenz-Upgrades, sodass der Anwender seine Lizenz von einer QuadView-TPQR Konfiguration auf eine TestWay Express oder TestWay Lizenz erweitern kann, um noch differenziertere Analysemöglichkeiten nutzen zu können.
Auf der electronica wird ASTER eine Vorabversion (Alpha-Release) von TestWay Express vorstellen, um Kunden bereits vor der offiziellen Markteinführung im ersten Quartal 2009 die Gelegenheit zu geben, das Konzept schon jetzt kennen zu lernen. QuadView-TPQR ist auf der Messe bereits als endgültige, freigegebene Version verfügbar.
QuadView-TPQR ist ein "low-cost" Analysewerkzeug, das es dem Anwender erlaubt, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen. QuadView-TPQR importiert das Testprogramm oder den Testreport, berechnet die Testabdeckung und erzeugt detaillierte Berichte im HTML- und MS-Excel-Format.
Die Leiterplattendaten können direkt von den für die Testerstellung vorgesehenen Software-Applikationen Siemens-TestExpert oder Mentor Graphics-CADCAD importiert werden, um das Leiterplattenlayout und die Schaltpläne zu visualisieren sowie Bauteilklassen und Eigenschaften wie Nummer, Wert und Toleranz zu modellieren. TPQR überprüft die Möglichkeit jeder Messung bzw. jedes Tests, bestimmte Fehlermerkmale auf der Basis von Bauteiltyp, Wert, Toleranz, Einbindung in der Netzliste, Position auf der Leiterplatte, Bauform, Anschlussraster etc. zu erkennen.
TPQR verwendet QuadView, die Viewer-Suite der neuesten Generation in der Elektronik-Industrie. Mit Hilfe dieses äußerst leistungsfähigen Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Testabdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschlussebene visualisiert werden. Zu den unterstützen Herstellern und Systemen gehören unter anderem: Agilent Technologies (3070, 5DX, SJ10, SJ50), Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x), TAKAYA (APT800, APT900), AEROFLEX (42xx), SPEA (4040), TRI, Orbotech, VI Technology, VISCOM, Asset, Corelis, Göpel, JTAG Technologies und XJTAG.
TestWay Express bietet eine noch wesentlich ausgefeiltere und komplexere Analyse der Testabdeckung als QuadView-TPQR. Es erlaubt Anwendern, innerhalb einer heterogenen Produktionslinie unterschiedliche Arten von Inspektions- oder Testeinrichtungen zu kombinieren. Dabei wird sowohl die Testabdeckung der individuellen Stationen, als auch die kombinierte Testabdeckung der gesamten Produktionslinie errechnet.
Bereits während einer frühen Entwicklungsphase kann die mit bestimmten Teststrategien verknüpfte Testabdeckung theoretisch ermittelt werden. Auf diese Weise werden ggf. Bereiche aufgedeckt, bei denen sich der Grad der Testabdeckung noch verbessern lässt. Die Möglichkeit, die theoretische Testabdeckung zu optimieren, führt durch höhere Testeffizienz zu höherer Produktionsausbeute und niedrigeren Gesamtkosten. Auf der anderen Seite kann TestWay Express die bei einer vorhandenen Produktion tatsächlich erreichte Testabdeckung berechnen, indem es die Testprogramme und Testabdeckungsberichte der unterschiedlichen Tester einliest und daraus die erreichte Testabdeckung ermittelt. Auf diesem Weg ist es möglich, einen Vergleich zwischen der theoretisch möglichen und der praktisch erreichten Testabdeckung durchzuführen.
Eine Vielzahl unterschiedlicher Testszenarien kann durch einfaches Auswählen von Testeinrichtungen aus einer Liste mittels Drag-and-Drop durchgeführt werden, um eine spezielle Testerlinie zu konfigurieren. Durch Simulation unterschiedlicher Kombinationen können Anwender die Vorteile jeder Lösung wirksam ins Spiel bringen, indem Fehlalarme und ungenaue Diagnosen reduziert werden. Die Vermeidung von Testüberlappungen macht sich vorteilhaft durch Verringerung der Gesamt-Testzeit bemerkbar.
TestWay Express identifiziert nicht nur effizient die Lücken in der Testabdeckung einer Gesamttest-Strategie. Durch die Analyse der Anzahl der in jeder Stufe der Testlinie entdeckten Fehler werden auch die Defizite jeder einzelnen Station sichtbar.
