Polytec Auszubildende zur Zerspanungsmechanikerin ist IHK Bundesbeste 2021
Die ehemalige Polytec Auszubildende zur Zerspanungsmechanikerin Larissa Heller wurde von der IHK am 11. November 2021 f…
Die ehemalige Polytec Auszubildende zur Zerspanungsmechanikerin Larissa Heller wurde von der IHK am 11. November 2021 f…
Fachartikel: Nahrungsmittelhersteller kontrollieren die Qualität ihrer Produkte mit Hyperspektral-Bildverarbeitungslösungen.
Installing manufacturing metrology as close as possible to the production line is the key to short feedback times to process parameters. Apart from finding the appropriate measurement technique with the required resolution, the solution has to be applied under unavoidable production conditions.
Immer wenn es um die Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit feinster Strukturen geht, sind Weißlicht-Interferometer in ihrem Element, in der Fertigung und Entwicklung ebenso wie im Labor und der Forschung. Sie bieten kurze Messzeiten, eine hohe Reproduzierbarkeit und arbeiten berührungslos, also ohne mechanischen Verschleiß an Messsystem oder Probe.
Wir sind für Sie da! Gerade in diesen herausfordernden Zeiten unterstützen wir Sie auf bestmögliche Weise. Im Jahr 2021 liefern wir Ihnen daher alle neu gekauften Vibrometer, Velocimeter und TopMap-Oberflächenmesssysteme mit einer 4-jährigen Garantie aus!
Polytec und topometric sind für ihr Verfahren zur Rohkarossenprüfung als inVISION Top Innovation 2021 ausgezeichnet worden.
Rohkarossen müssen hinsichtlich Statik, Torsion und Schwingungsverhalten geprüft werden. Um Zeit und Kosten zu sparen, setzen immer mehr Automobilhersteller auf Offline-Simulationen zur Testvorbereitung. Daher haben Polytec und Topometric zwei unterschiedliche Messverfahren zusammengebracht: 3D-Scanning und Vibrometrie.
Eine ganz besondere Firmenführung durch die Hightech-Fertigung und die vollautomatische Messstation RoboVib® bei Polytec
Lukas Wunsch, ehemaliger Auszubildender bei Polytec, ist von der IHK als Jahresbester 2020 ausgezeichnet worden.
Fachartikel über die Oberflächenmessung von Strukturen im Nanometerbereich in Fertigung, Entwicklung, Labor und Forschung.