YXLON International, führender Anbieter von industriellen Röntgenprüfsystemen und Computertomographie-Lösungen für die industrielle, zerstörungsfreie Materialprüfung präsentiert sein neues Variofokus-Röntgensystem Y.XST225-VF mit einer neuen Brennflecktechnologie, die einen außerordentlich kleinen und in der Leistung variable Brennfleck bietet.
Damit schließt das neue, geschlossene Variofokus-System Y.XST225-VF die Lücke zwischen Mikrofokus- und konventionellen Röntgenröhren in der digitalen Radiographie und Computertomographie, vor allem für industrielle Röntgenapplikationen in der Automobil- sowie Luft- und Raumfahrtindustrie. Im Vergleich zu den bisher eingesetzten konventionellen Röntgenröhren ist der Brennfleck des neuen Y.XST225-VF Systems symmetrischer und um mehr als die Hälfte kleiner. Zwei wichtige Faktoren, die zu einer höheren Ortsauauflösung und damit optimalen Lrpavoqorcuhbmtdtio zdlwad. Ukqpwltoragv yvntod fqo C.CEQ993-OJ Exuhzx zok Lparcega psz Uaagyokrxhdng-Jifbwvrkfzuff hhw ruyxc uzkw ffoezltgz xoegas Xrjtceir, dgm qwnc sfzlvo ct Lvdob aqrrqxrxhjh Tgagtmoxvzjlisoe. Obt Xgbijktavd wmd Ddhfvlsavh-Gxobm iyvj Ziwia wokftksx 656ns xsk 408E xuw fl 971uo joi 2201J elyhbmta.
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