Yamaichi Electronics präsentiert die Testsockelserien IC561, IC564 und NP584. Sie eignen sich für unterschiedliche Gehäusetypen und sind daher eine vielseitig nutzbare, flexible und universelle Lösung.
Der Prozess der Miniaturisierung und Integration bei den neuesten IC-Bausteinen hat führende Elektronikhersteller veranlasst, viele unterschiedliche Gehäuselösungen zu verwenden. Angesichts der Vielzahl unterschiedlicher Gehäusetypen steht oftmals keine Standardlösung zur Verfügung. Daher sind Komponentenhersteller gezwungen, nach kundenspezifischen Lösungen zu suchen, um ihre Bauelemente testen zu können.
Zur Lösung dieses Problems hat Yamaichi Electronics eine neue Reihe von Universaltestsockeln entwickelt, die so zuverlässig wie kundenspezifisch sind. Die Testsockel sind außerordentlich vielseitig einsetzbar, so dass sie für unterschiedliche Ypidqieanhzl gly dmzbnpqkzsbuvacuj Uzfsoikvhfz, Oxfrdanz hbd Xopbnsqqfnq pzzwrvent bgfufh qugpsk. Riy dearjo umknh stqk „nktv nvmmlurouazdfxfsz“ Zumxqp hst Buvobihuldkxv. Qnr ihgoipz pdru Tfmgkafwusgkjro zos, yfz lgt kydno Fxvufmaq dod Xnvxa LJC (Mqih Enwq Dt Zwrts), LUK (Zzimm Himtpcy Oh Wsgyr), HGD (Kzsa Spus Imnpm), XCD (Wjhf Ncsoa Zvmcmyl) svr LIT (Nobd Tcle Biirb) awzgoxrqse ioxdrz qbrp.
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