Zum Testen und Programmieren von Embedded-Modulen stellt Yamaichi Electronics einen im European Design Center entwickelten Testadapter vor.
Der Testadapter für Embedded-Module wie Qseven oder MXM zeichnet sich besonders durch zwei Merkmale aus:
- Zuverlässige und robuste Kontaktierung des Moduls mit Probe-Pins, welche auch für Kontaktierungen im Halbleitertest verwendet werden und
- impedanzkontrollierter Aufbau nach Kundenvorgaben bzw. Qseven-Standard.
Das einzigartige Testsystem wird in der Kundenanwendung auf die Testleiterplatte montiert. Die Schnittstelle zwischen Testadapter und Testleiterplatte bildet dabei der durch Yamaichi bekannte BEC-Connector. Die Kompatibilität zum MXM-Connector wurde dabei berücksichtigt. Der Prüfling, das Qseven- oder MXM-Module, wird in den Testadapter gesteckt und über tyg Nkcz- tyne Hkkgocsknzutshvq wfzzzcke.
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Der Testadapter für Embedded-Module wie Qseven oder MXM zeichnet sich besonders durch zwei Merkmale aus:
- Zuverlässige und robuste Kontaktierung des Moduls mit Probe-Pins, welche auch für Kontaktierungen im Halbleitertest verwendet werden und
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Das einzigartige Testsystem wird in der Kundenanwendung auf die Testleiterplatte montiert. Die Schnittstelle zwischen Testadapter und Testleiterplatte bildet dabei der durch Yamaichi bekannte BEC-Connector. Die Kompatibilität zum MXM-Connector wurde dabei berücksichtigt. Der Prüfling, das Qseven- oder MXM-Module, wird in den Testadapter gesteckt und über tyg Nkcz- tyne Hkkgocsknzutshvq wfzzzcke.
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