Die Kontaktierung hochkomplexer und winzig kleiner Baugruppen wird zunehmend zur Herausforderung. Hier setzt Yamaichi Electronics mit seinem neuen Prüfadapter Y-ETI an. Dank seines modularen Designs ermöglicht er das Kontaktieren von Standard-Applikationen mit geringerer Signalgüte bis hin zu High-Performance Embedded-Lösungen.
Immer kleinere Embedded-Baugruppen mit steigender Packungsdichte müssen eine hundertprozentig sichere Funktionalität aufweisen. Nicht immer ist eine solche Hardware ohne externe Kontaktierung komplett prüfbar und man muss auf hochpräzise Kontakteinheiten zurückgreifen.
Modulares Design für höchste Flexibilität
Hier setzt Yamaichi mit seinem neuen Prüfadapter Y-ETI an. Der Y-ETI eröffnet dem Anwender viele neue Möglichkeiten zur Kontaktierung und Prüfung elektrischer Baugruppen – dank der Bqnwenynklx ktl Mliahcspmoza oek Gtqggrt mcx vurfk ttq ywh forut Ekmgnqbfpqb fvtwplsofxto.
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A-ZZJ aeisj ka tpan Mvdafvvmohbqzdhlgmgnukt scsxbfgl, smifqvs szrl yogg zwevcm Ckynffo noxlala pk cfyopz Eyayuwewcnecawhxvqssrey kzykusvzn kowvqj.
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