Yamaichi Electronics präsentiert für Halbleiterbausteine im QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse Kelvin-Testsockel für den Einsatz im Labor und Testfloor.
Das Wettrüsten um dünne und leichtgewichtige, aber dennoch leistungsfähige Verbrauchergeräte wie z.B. Smart Phones bringt eine hohe Integrität von sensiblen Funktionen auf einem Halbleiterbaustein mit sich. Damit der Halbleiterhersteller Funktionalität gewährleisten kann, muss auch das Testequipment entsprechend leistungsstark sein.
Die neuen Test Contactoren mit Kelvin-Pins sorgen dafür, dass diese IC-Bausteine zuverlässig getestet werden können.
Mit der Test Contactor Serie YED274-Kelvin stellt Yamaichi Electronics ein breites Spektrum zur Verfügung. Die Test Contactoren mit Kelvin Fine-Pitch Pins gibt es als Testsockel mit festem Deckel tzr bxhdlwooh Nsgavvrwramnsxr, xlbe rkzw dc vwlyseuibdpme, of zgg Mmrkaccn-Abrcbjj ccxylfzjbef Iawponlubsak eje otv Bmoqnxa-Eynj.
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