Zuken® und XJTAG®, ein führendes Unternehmen für Boundary-Scan- und DFT-Technologien, haben im Rahmen einer Partnerschaft ein Design-for-Testability(DFT)-Tool entwickelt, das die Zuken-Software CR-8000 um eine leistungsfähige Testmethodik bei der Schaltplaneingabe erweitert. Das Tool basiert auf dem DFT Assistant von XJTAG und wird im Spätjahr als kostenfreies Plugin für Anwender von CR-8000 Design Gateway verfügbar sein.
CR-8000 ist eine native 3D-Entwicklungsplattform für das produktzentrische Design von Leiterplatten. CR-8000 unterstützt die Architektur-Definition, das systemübergreifende Multi-Board-Layout, das Co-Design von Chip, Package und Leiterplatte sowie das MCAD-Co-Design in 3D. CR-8000 Design Gateway ist das Paket für die Entwicklung elektrischer Schaltungen und die Prüfung elektronischer Designs.
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