Kristalline Zinn-Dendriten und Zinn-Whisker stellen in der hochverdichteten Elektronik ein erhebliches Risiko für Kurschlüsse dar. Zinn-Dendriten entstehen während dem galvanischen Beschichtungsprozess, indem sich an den Endkappen und am Gehäuse Zinnauswüchse formieren. Lediglich eine aufwändige Inspizierung und Reinigung gemäss MIL-PRF 23419 kann das Problem beseitigen. Zinn-Whisker hingegen entstehen unvorhergesehen und vor allem nach dem galvanischen Beschichtungsprozess. Der zugrundeliegende physikalische Prozess ist noch nicht vollkommen geklärt, jedoch wurde das Problem bis anhin mit der
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