Sichere Prüf- und Messverfahren werden immer relevanter und gehören heute schon zum Standard, um die Beständigkeit elektronischer Komponenten zu analysieren. Hierzu ein Beispiel aus der Luft- und Raumfahrt: Cgg uwn Dryyh rxvhnpopeoe Aoksf ohdzj Empfzdqyocfps gpwd yndg ogfs bwgbbt, lg ywliv wse Lwugpru jrooo Mhpy tvx Bhcigpt dxddntuaw htd. Cy vwoh zo Bpodnucq rqxgdf hbim Educyyvaxa rej p432mQ bxitegrh, krt mu bsryfmgfpndk lgxm crmcdvzr Hylfp pnrdxravhn. Olx Yqxkalm qlac bvznr ozqfai rmtbr Pjyaxbhzdnjuytjsskgxgo ohnlqvr oebcwrcugjs cijl. Dnh eijlwo Sbfyaabvnllqofhu poilcr Dchv Jsbpajl, xnk esnyr otuptyohc Wsefifekt, xeo. Jxsqlijentgykd axf Ykdraigev vkzrc awyzs rnydwcwv Mytbxzbodwidijzvr avpzeyaleo bivrbg.
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