Deutliche Rationalisierungsmöglichkeiten bei der Fertigung dünnschichtiger Materialien wie SiC-Wafer und scheibenartiger Messproben bietet jetzt das neue Messsystem Nemesis XV von Precitec Optronik in Rodgau.
Das System zur Dicken- und Topografieerkennung von transparenten und auch nichttransparenten Stoffen ist in der Lage, berührungslos und damit beschädigungsfrei, zeitgleich die Dicke und Rauheitswerte des hochsensiblen Produktes exakt zu messen.
Ergebnis: Die gewünschte Produkt-Qualität wird zuverlässig gesichert.
Die Messgenauigkeit ist besser als 1µm. Sie liefert damit eine sichere Grundlage für den Offline-Einsatz im Rahmen der Stichprobenmessung.
Das neue System arbeitet mit den chromatischen Weißlichtsensoren der neuen Produktfamilie CHRocodile von Precitec Optronik.
Das System zur Dicken- und Topografieerkennung von transparenten und auch nichttransparenten Stoffen ist in der Lage, berührungslos und damit beschädigungsfrei, zeitgleich die Dicke und Rauheitswerte des hochsensiblen Produktes exakt zu messen.
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Die Messgenauigkeit ist besser als 1µm. Sie liefert damit eine sichere Grundlage für den Offline-Einsatz im Rahmen der Stichprobenmessung.
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