Mehr Funktionaliät in der Entwicklung einer elektronischen Baugruppe ohne zusätzlichen Platzbedarf stellen immer höhere Anforderungen an die Mess- und Prüftechnik. Eine davon ist punktgenaue Einspeisung von transienten Störgrößen in dicht gepackte Struckturen zur Prüfung der Störfestigkeit einzelner Bausteine in seiner Einbauumgebung.
Die neue Sonde ES 08 D wurde als E-Feldquelle zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen - ins¬besondere bei sehr kleinen Strukturen - entwickelt. Den Elektronikentwicklern werden für das Einkoppeln von Burstimpulsen zwei Feldquellen bereitgestellt, eine Sonde für Generatoren nach EN 61000-4-4 (Burstimpulse 5/50 s) mit hoher Spannungsfestigkeit bis 4 kV und eine Sonde für den SGZ
Die neue Sonde ES 08 D wurde als E-Feldquelle zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen - ins¬besondere bei sehr kleinen Strukturen - entwickelt. Den Elektronikentwicklern werden für das Einkoppeln von Burstimpulsen zwei Feldquellen bereitgestellt, eine Sonde für Generatoren nach EN 61000-4-4 (Burstimpulse 5/50 s) mit hoher Spannungsfestigkeit bis 4 kV und eine Sonde für den SGZ
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