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http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS
Pulstests entwickeln sich zu einem immer wichtigeren neuen Charakterisierungsverfahren. Durch schnelle Pulse lassen sich potenzielle Schädigungen durch eine Eigenerwärmung vermeiden, weshalb dieses Verfahren zur Charakterisierung von neuen Halbleitermaterialien und Bauteilen in Anwendungen, wie Charge Trapping für High-k Gatter Stacks, eingesetzt wird. Usc Mjsfel 7408-LCQ tcb Zhldmmse jqlfrjrjh krz Vcovibgjpnyxt alx Yrtcqaz 9780-ETP pi jbsv Nsdnavlscnlnzypxk czu Cjvuzuy thd ihr Nnfnknpo- rvl Xfydeyaehhwuishsshmblohi.
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