New Keithley Online Tutorial Provides Information on Ultra-Fast I-V Measurement Applications

(PresseBox) ( Germering, )
Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), a world leader in advanced electrical test instruments and systems, has created an interactive applications overview that provides instruction and insight into a variety of semiconductor measurement applications that require ultrafast I-V measurements. The new overview, titled "Ultra-Fast I-V Applications," can be viewed online at

http://www.keithley.info/ultrafastIV.

Ultrafast I-V sourcing and measurement have become increasingly critical capabilities for many semiconductor technologies. Using pulsed I-V signals to characterize devices rather than DC signals makes it possible to study or eliminate the effects of selfheating (joule heating) or to minimize current drifting in measurements due to trapped charge.

The applications overview includes sections on integrated high speed sourcing and measurement; a discussion of voltage, current, and timing parameter ranges; a description of the builtin interactive software provided in Keithley's ultrafast I-V test solution; and a detailed discussion of ultrafast I-V applications. Builtin links provide easy navigation, and many of the schematics and other diagrams enlarge automatically when scrolled over to allow easier reading.

- Ultrafast I-V testing is appropriate for a growing range of semiconductor test applications, including:
- CMOS device characterization (charge pumping, selfheating, and charge trapping)
- NBTI and PBTI characterization, modeling, and monitoring
- Testing nonvolatile memory devices such as PCRAMs
- Testing of compound semiconductor devices and materials (laser diodes and thermal impedance measurements), and
- Characterization of nanotechnology, MEMs devices, and solar cells.
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