Zu den Inhalten gehören die Bildinterpretation von Rückstreu- und Sekundärelektronen-Abbildungen, Analysestrategien für die Elementanalyse (EDX) sowie eine sinnvolle Probenpräparation im Hinblick auf typische Fragestellungen der Oberflächenanalytik.
Weitere Inhalte:
Einstieg in die Rasterelektronenmikroskopie
Zielführende Probenpräparation Teil I – Oberflächenoptimierung
Schadensfälle
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