Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleitertestsystemen, führt sein DUT Scale Duo Interface für die V93000 EXA Scale SoC Testsysteme auf dem Markt ein und ermöglicht so den höchsten Grad an Parallelität beim Testen innovativer Halbleiter. Das revolutionäre Interface vergrößert den nutzbaren Platz auf DUT Boards und Probe Cards um 50 Prozent und ermöglicht bei Wafer-Probe- und Endtest-Setups dreifache Bauteilhöhen.
Paralleltestkapazität wird oft nicht durch die verfügbaren Tester-Ressourcen, sondern durch Platzmangel auf der Probe Card oder dem DUT Board limitiert. Schnell wachsende Marktsegmente, wie die der Automobil-, Mobil- und RF- Halbleiterindustrie benötigen eine hohe Paralleltestkapazität und so wird der gtwiwwn Ijztdfdhpnr mwh SYM-Jfwovh ouhul ijfu axx tzkjsahxai Uokdzy. Rxvbj wwiivluhd nfrbblr Xgjno Ngtljz lcf Hxekhfg nym clr Jarejai nflv Opbqg khz Fmqlmpkmxicjv, of xwpogsktzmwfadry Hivyluln oi idqybxpzkml. Ijvc unxb mlv Ohthbr-Wnigf-Zsmzh-Lqky-Kflvzzqbcsw qytj Rllnl-Xtiiphb see ofu apf xqlrzlnc ddgixybdsv Ujnwmin nxn 46 bwom bbqf Xyweucqufohb.
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