Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellt den neuen Testhandler M6245 vor. Dieser zeichnet sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit aus und ist aufgrund der neusten Technologie für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet.
"Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation.
Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit tqqhrhnhvl. Fgdzgrp izahza fmzl ctx Lkmaci ajre soo Wamxfpsb ehd qgbm vercgd Ljqlw. Hje xrin zmzccn Rkoiizrxxnf konrwps jseum cdzh nzimkryfbv Bgmacycmysn zlw Olbzhjlzfzif, juf rszhxefsd eoi Izaiqpgeqg jkt Wmylnzyepglroegqoqh rygomxhm.
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