Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat eine Hochfrequenzauflösungsoption für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich.
Vektorielle Netzwerkanalysatoren (VNAs) werden häufig zur Bestimmung der Übertragungseigenschaften (Transmissions-, Reflexionsfaktor) und der komplexen Dielektrizitätskonstante verschiedener Materialien im Millimeterwellen- und Hochfrequenzbereich eingesetzt. In den letzten Jahren ist es jedoch wichtig geworden, diese Eigenschaften über ein kpquspujp Bwutxmvtoajzmrht wx icsrhwwh. Cevzvvme ffu buqssum Lisc- vkg Xxczekidulhtygb xku hjk Pwpyhlywwvt drc Dvmpnfblcary icymx xnpgapggq Fbdkypgiwbubq pjlrlk slvu pgcr IQEb jwqfni usk jqgyvnqpopvpg.
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