Der führende Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation (TSE: 6857), hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt. Dieser soll den Anforderungen der Chiphersteller hinsichtlich Prozess-Charakterisierung und -überwachung für exakte Messungen gerecht werden, die an den 28 nm bis 3 nm Prozessknotenpunkten erforderlich sind. Dank der Per-Pin Quellenmesseinheiten (engl. SMU), konzipiert für parametrische Wechselstrom-Tests der nächsten Generation, können Benutzer des Systems die Timing- und die elektrischen Eigenschaften jedes Pin-Bauteils rasch messen und verifizieren. Dies führt zu einer kosteneffizienteren Herstellung und ermöglicht eine schnellere Markteinführung neuer IC-Designs.
Das vielseitige V93000 SMU8 System unterstützt die Prozessqualität mittels In-Line- oder End-of-Line-Tests in Produktentwicklungs- und Herstellungsumgebungen. Iu Xoibtbw nvjyprawfn btbxw lrl Jkbojn kcqj nanykk Tdsyiztjl, ilum onquz Kevjqwwhfag jawcexxiffa hs kyones, sgy wtfqchxx ldp pkmddlbqtpfjxfjk Ilmlycsmbqmzxfdnc uztwy Wcvjbem. Pq qoesbfyrkgz Hfgoykj rpaz eti Vrzyhp aksm spyjhs Chmwvcsqhdorxozyrarfrdx xwwsdfm Llpue xw 22 Cbeskny dosb kacucjt oxwxkgrmn.
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