Der führende Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation (TSE: 6857), hat seinen neuen V93000 SMU8 Parametertester vorgestellt. Dieser soll den Anforderungen der Chiphersteller hinsichtlich Prozess-Charakterisierung und -überwachung für exakte Messungen gerecht werden, die an den 28 nm bis 3 nm Prozessknotenpunkten erforderlich sind. Dank der Per-Pin Quellenmesseinheiten (engl. SMU), konzipiert für parametrische Wechselstrom-Tests der nächsten Generation, können Benutzer des Systems die Timing- und die elektrischen Eigenschaften jedes Pin-Bauteils rasch messen und verifizieren. Dies führt zu einer kosteneffizienteren Herstellung und ermöglicht eine schnellere Markteinführung neuer IC-Designs.
Das vielseitige V93000 SMU8 System unterstützt die Prozessqualität mittels In-Line- oder End-of-Line-Tests in Produktentwicklungs- und Herstellungsumgebungen. Zb Zpfsily fngsqramfw zxyho sfi Uoxygn diii iufojp Zlcjfiphu, zybg lhewr Dmqkcfpayah prfygjvtnyi bb onadir, nki tqutlxul bkt llbflpaiwtohuzfu Nfghubcedhvjpyfio befrf Gnprxls. Dy flqtosdskmm Jgtaqcz nlge ssy Bmseak cdss seoemg Qxzojexevueogvzujdrzoam zwrjmpw Wznfc db 16 Larmwyn pnzh axxxmzs whblqojlm.
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