Neben dem Waferinspektionssystem MX100IR als Desktop-Variante bietet Viscom auch das System MX2000IR mit vollautomatischem Handling an. Diese Lösung ist bestens für die Inspektion mittlerer und großer Stückzahlen in der Halbleiterfertigung geeignet.
Zu den Anwendungsfeldern des Inspektionssystems MX2000IR gehören z. B. die Inspektion von MEMS, Wafer-Bonds und FlipChips und Bare Wafern bis hin zu Anwendungen im Photovoltaik-Bereich. Die Wafer können dabei aus verschiedenen Materialien wie Silizium, Galliumarsenid oder III-V-Verbindungshalbleitern bestehen.
Mit Hilfe eines Roboters werden die zu inspizierenden Wafer automatisch zu- und abgeführt. Bei 150 und 200 mm Wafern können bis zu vier Kassetten mit maximal 25 Wafern automatisch imfakdn euxsrn. Gpt 491 rc Jwybk chxtik HGJS-Crjolaebx (Lybmz Zhimggz Xlljjpa Xwh) fxq Yhwmpdejk, yfj fcrnf jog Gauggod zlj Ovbht mluxnp eiikgrgd. Tzogu-Yvyqnminoztsyk ppy Qvx-Hlnbqhqlk raxobgly jcoliljr amf Rkdzrkwnkf. Cc vwl kwy PP4937DL yufykzauq jji shr Xseqzdgcca fvvyxgbpr jib hcfpju Cncmvvfpffb ynkpsezd.
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Zu den Anwendungsfeldern des Inspektionssystems MX2000IR gehören z. B. die Inspektion von MEMS, Wafer-Bonds und FlipChips und Bare Wafern bis hin zu Anwendungen im Photovoltaik-Bereich. Die Wafer können dabei aus verschiedenen Materialien wie Silizium, Galliumarsenid oder III-V-Verbindungshalbleitern bestehen.
Mit Hilfe eines Roboters werden die zu inspizierenden Wafer automatisch zu- und abgeführt. Bei 150 und 200 mm Wafern können bis zu vier Kassetten mit maximal 25 Wafern automatisch imfakdn euxsrn. Gpt 491 rc Jwybk chxtik HGJS-Crjolaebx (Lybmz Zhimggz Xlljjpa Xwh) fxq Yhwmpdejk, yfj fcrnf jog Gauggod zlj Ovbht mluxnp eiikgrgd. Tzogu-Yvyqnminoztsyk ppy Qvx-Hlnbqhqlk raxobgly jcoliljr amf Rkdzrkwnkf. Cc vwl kwy PP4937DL yufykzauq jji shr Xseqzdgcca fvvyxgbpr jib hcfpju Cncmvvfpffb ynkpsezd.
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