Sollen Stahl und Aluminium besonders lange halten, wird das Metall mit einer Passivierungs- oder Konversionsschicht überzogen. Die Beschichtung schützt das Metall vor Oxidation und erleichtert als Haftvermittler eine Lackierung. Um eine einheitliche Beschaffenheit der beschichteten Metalle sicherzustellen, müssen die Beschichter die Schichtstärke während der Verarbeitung regelmäßig kontrollieren. Als einer der führenden Hersteller im Bereich Röntgenfluoreszenzanalytik (RFA) hat SPECTRO für das SPECTRO PHOENIX II eine neue Applikation für At-Line-Analysen in der Metallindustrie entwickelt. Mit dem robusten RFA-Gerät lassen sich Beschichtungen aus Silan, Phosphor, Zirkon, Titan, Vanadium und Chrom messen. Die Nachweisgrenze liegt für Phosphatierungen etwa bei gerade einmal 13 g/m².
SPECTRO hat die neue Applikation in einem Applikationsbericht dokumentiert. Der Bericht beschreibt die Messanordnung und die Ergebnisse mehrerer Testreihen. Das Dokument kann ab sofort unter www.spectro.com angefordert werden.
Noch vor einigen Jahren kam bei Konversionsbeschichtungen in nahezu allen Fällen eine Chromatierung zum Einsatz. Angesichts der Giftigkeit von sechswertigem Chrom und vielfältigen gesetzlichen Auflagen im Rahmen der RoHS-Direktive arbeiten die meisten Hersteller heute mit umweltverträglicheren Beschichtungen: Je nachdem, welche Materialeigenschaften das beschichtete Metall aufweisen soll, kommen heute neben drei- und vierwertigem Chrom auch Silan, Phosphor, Zirkon, Titan oder Vanadium zum Einsatz. All diesen ist gemeinsam, dass sie Stahl und Aluminium zuverlässig vor Oxidation schützen und als Haftvermittler dienen – vorausgesetzt, die Beschichtung ist gleichmäßig aufgetragen und weder zu dick noch zu dünn. Damit dies gelingt, ist es erforderlich, die Beschichtung während der Produktionsprozesse regelmäßig zu prüfen. SPECTRO bietet für dieses Einsatzszenario mit dem SPECTRO PHOENIX II ein stabiles Allround-Gerät, das auch in den rauen Anlagen der Metallindustrie ausfallsicher arbeitet und sehr benutzerfreundlich ist: Der Mitarbeiter schneidet aus dem Stahl oder Aluminium mehrere, etwa sieben auf zehn Zentimeter große Proben. Die Proben werden anschließend nacheinander mit der beschichteten Seite nach unten in die Probenkammer des SPECTRO PHOENIX II gelegt. Der Mitarbeiter startet die Messung am intuitiven Touchscreen und erhält binnen weniger Minuten das exakte Messresultat.
Im neuen Applikationsbericht hat SPECTRO sechs Messreihen mit dem PHOENIX II dokumentiert: Chrom-, Titan- und Zirkonbeschichtungen auf Aluminium, Chrom- und Phosphorbeschichtungen auf Stahl sowie eine Silanbeschichtung auf chromatiertem Stahl. Das Gerät lieferte in allen Messreihen äußerst zuverlässige Ergebnisse. Die Abweichungen lagen bei deutlich unter einem Prozent des Schichtauftragsgewichtes.
In Einsatzbereichen, in denen die Spektrallinien der Beschichtung und des Trägers sehr nahe beisammen liegen, stößt das SPECTRO PHOENIX II an seine Grenzen. Typische Beispiele sind die Messung dünner Zirkonbeschichtungen auf Aluminium oder dünner Chromatierungen auf Stahlblech. Für diese Anwendungsgebiete bietet SPECTRO als Alternative das High-End-RFA-Gerät SPECTRO XEPOS. Dieses arbeitet mit einer höheren spektralen Auflösung als das PHOENIX II und kann so auch nah beieinanderliegende Spektrallinien zuverlässig unterscheiden. Zusätzliche Vorteile bietet das XEPOS in Labors mit hohem Probenaufkommen: Der Probenteller des XEPOS kann mehrere Proben gleichzeitig aufnehmen, die automatisiert nacheinander verarbeitet werden. Die Untersuchung von Beschichtungen mit SPECTRO XEPOS ist ebenfalls in Applikationsberichten dokumentiert, die kostenfrei unter www.spectro.com verfügbar sind.
SPECTRO hat die neue Applikation in einem Applikationsbericht dokumentiert. Der Bericht beschreibt die Messanordnung und die Ergebnisse mehrerer Testreihen. Das Dokument kann ab sofort unter www.spectro.com angefordert werden.
Noch vor einigen Jahren kam bei Konversionsbeschichtungen in nahezu allen Fällen eine Chromatierung zum Einsatz. Angesichts der Giftigkeit von sechswertigem Chrom und vielfältigen gesetzlichen Auflagen im Rahmen der RoHS-Direktive arbeiten die meisten Hersteller heute mit umweltverträglicheren Beschichtungen: Je nachdem, welche Materialeigenschaften das beschichtete Metall aufweisen soll, kommen heute neben drei- und vierwertigem Chrom auch Silan, Phosphor, Zirkon, Titan oder Vanadium zum Einsatz. All diesen ist gemeinsam, dass sie Stahl und Aluminium zuverlässig vor Oxidation schützen und als Haftvermittler dienen – vorausgesetzt, die Beschichtung ist gleichmäßig aufgetragen und weder zu dick noch zu dünn. Damit dies gelingt, ist es erforderlich, die Beschichtung während der Produktionsprozesse regelmäßig zu prüfen. SPECTRO bietet für dieses Einsatzszenario mit dem SPECTRO PHOENIX II ein stabiles Allround-Gerät, das auch in den rauen Anlagen der Metallindustrie ausfallsicher arbeitet und sehr benutzerfreundlich ist: Der Mitarbeiter schneidet aus dem Stahl oder Aluminium mehrere, etwa sieben auf zehn Zentimeter große Proben. Die Proben werden anschließend nacheinander mit der beschichteten Seite nach unten in die Probenkammer des SPECTRO PHOENIX II gelegt. Der Mitarbeiter startet die Messung am intuitiven Touchscreen und erhält binnen weniger Minuten das exakte Messresultat.
Im neuen Applikationsbericht hat SPECTRO sechs Messreihen mit dem PHOENIX II dokumentiert: Chrom-, Titan- und Zirkonbeschichtungen auf Aluminium, Chrom- und Phosphorbeschichtungen auf Stahl sowie eine Silanbeschichtung auf chromatiertem Stahl. Das Gerät lieferte in allen Messreihen äußerst zuverlässige Ergebnisse. Die Abweichungen lagen bei deutlich unter einem Prozent des Schichtauftragsgewichtes.
In Einsatzbereichen, in denen die Spektrallinien der Beschichtung und des Trägers sehr nahe beisammen liegen, stößt das SPECTRO PHOENIX II an seine Grenzen. Typische Beispiele sind die Messung dünner Zirkonbeschichtungen auf Aluminium oder dünner Chromatierungen auf Stahlblech. Für diese Anwendungsgebiete bietet SPECTRO als Alternative das High-End-RFA-Gerät SPECTRO XEPOS. Dieses arbeitet mit einer höheren spektralen Auflösung als das PHOENIX II und kann so auch nah beieinanderliegende Spektrallinien zuverlässig unterscheiden. Zusätzliche Vorteile bietet das XEPOS in Labors mit hohem Probenaufkommen: Der Probenteller des XEPOS kann mehrere Proben gleichzeitig aufnehmen, die automatisiert nacheinander verarbeitet werden. Die Untersuchung von Beschichtungen mit SPECTRO XEPOS ist ebenfalls in Applikationsberichten dokumentiert, die kostenfrei unter www.spectro.com verfügbar sind.
