Seica, Weltmarktführer bei der Entwicklung und Fertigung von elektrischen Testlösungen für elektronische Baugruppen und Module, zeigt automatisierte Lösungen wie die Pilot V8 Flying Prober mit automatischem Belader, die innovative In-Circuit und Funktionstester Linie Compact SL und die Top-Bottom Version der Firefly Laser Selektivlötsystem. Zusätzlich wird das RTE-200 Boundary Scan System, eine Kombination aus Analog- und Boundary Scan-Test gezeigt.
PILOT V8 (Automatic)
Pilot V8 ist der einzige ATE Flying Prober mit vertikaler Architektur, ausgestattet mit 8 drive/sense Flying Probes, zwei Versorgungs-Probes, zwie für den vectorlosen Test, zwei Kameras und zwei Temperatur-Sensoren, mit denen In-Circuit-Test, Funktionstest, Boundary Scan, optischer und thermischer Test an allen Arten von gedruckten Schaltungen durchgeführt werden können.
Wenn er zum Testen von neuen Baugruppen von Fertigungslosen eingesetzt wird, bietet die Pilot V8 extrem hohe Möglichkeiten. Dank der Paralleltesteigenschaft, mit der zwei Baugruppen gleichzeitig getestet werden können, wird die Produktivität verdoppelt und bietet Testzeiten, die mit den Standard Nadelbettadapter Tester vergleichbar sind, mit einer hohen Fehlerabdeckung und besserem mechanischen Zugriff auf die Leiterplatte selbst.
Wenn er zur Reparatur von Baugruppen aus dem Feld verwendet wird, erlaubt die Pilot V8 auch ein Reverse Engineering während des Testen, mit dem die Möglichkeit besteht, die CAD Projekt Daten und die Verdrahtungsliste zu rekonstruieren, wenn diese Initial nicht zur Testprogrammgeneration verfügbar sind.
Die neue Pilot V8 Automatic, entwickelt für diejenigen, die die Ausbeute beim high Volumne Test maximieren wollen, hat einen speziellen Conveyer für den automatischen Transport der Leiterplatten, kombiniert mit einem externen Lader / Entlader, erlaubt es das Testsystem ohne einen dedizierten Bediener zu betreiben.
Compact SL
Die neue In-Circuit und Funktionstestlinie Compact SL wurde inspiriert durch die WCM Standards, die zunehmend im Elektronikfertigungsbereich verbreitung finden, dies speziell in der Automotive Industrie, wo Ergonomie, kleinen Abmaßen und leichte Wartbarkeit essentielle Eigenschaften sind was ein gutes Testsystem, das robust, zuverlässig und genau ist, haben muss. Der Transport von Leiterplatten wird durch einen automatischen "pass through" Conveyer gewährleistet, voll gesteuert durch das VIVA Betriebssystem, ein Kern aller SEICA ATEs, während die Kontaktierung zwischen dem Prüfling und dem Nadelbettadapter durch eine motorisierte Presse, vollautomatisch und programmierbar erfolgt.
Compact SL ist nur 60 cm breit, aber beinhaltet alle Eigenschaften eines kompletten Testsystems , erweiterbar auf über 3000 Kanälen, mit der Möglichkeit, analoge, digitale und Funktionstests, aber auch optische Tests durchzuführen, wenn Kameras und / oder Glasfaserkabel konfiguriert sind, für die Inspektion von LCD und Lumineszenz-LED.
Compact SL verwendet den gleichen mechanischen Adapter von anderen manuellen Systemen der Compact Line, damit können bis zu 4 unabhängige JOBS laufen, um gleichzeitig maximal 4 Prüflinge zu testen.
Wenn sie für den Funktionstest konfiguriert ist, kann die Compact SL mit einer alternative Management Software als das VIVA Betriebssystem betrieben werden, wie Labview und TestStand von National Instruments um eine Standardisierung der Produktion zu erreichen.
Firefly
Seica ist seit Jahren mit der Firefly am Markt, ein System das eine einfache und flexible Lösung beim Laser Selektivlöten bietet. Projektentwicklungen, dediziert über die Jahre, um die bottom Version Firefly B60 zu verbessern und zu konsolidieren, werden nun auch auf die neue "top" System Plattform übertragen. Das Model "top" ist nun als Version "top" (Firefly T60), mit einem Lötkopf von oben oder in einer Version "top-bottom" (Firefly TB60) verfügbar mit 2 unabhängigen Lötköpfen oben und unten. Die Maschine ist mit 2 autonomen Modulen ausgestattet, jedes mit einer eigenen Laser Quelle. Die Firefly Projektphilosophie bietet Lösungen, bei der eine Integration von Laser Selektivlöten in eine bestehende Produktionslinie gefordert ist, nicht notwendigerweise entsprechend mit der SMEMA Spezifikation. Das "top" Modul verbindet das "bottom" Modul (oder den Kunden Conveyer) durch ein definiertes Interface, durch Hardware und Software.
Das Top-Löten ist weit verbreitet bei vormontierten Modulen, bei denen die Bauform den Hersteller dazu zwingt, einen speziellen Transport zu verwenden.
Die Laser Technologie beim Selektivlöten repräsentiert mehr eine Selektion des Prozesses als der einer Maschine. Die Technologie integriert im Firefly Lötkopf, kombiniert mit einer effizienten Software, erlaubt eine Charakterisierung eines stabilen thermischen Profils für jeden Lötpunkt.
Der Laser repräsentiert eine flexible Lösung, aber zur gleichen Zeit ist er wiederholbar und kontrollierbar: er ist die Lösung für die Prozesszertifikation
RTE-200 Boundary Scan
RTE-200 Boundary Scan ist die perfekte Lösung für diejenigen, die die Leistungsfähigkeit eines analogen Funktionstestsystems kombinieren möchten mit dem eines Boundary Scan Testers zum testen von digitalen Komponenten: Kompakte Bauform und Standard 19" Rack Architektur erlaubt den Anwender den Einsatz des RTE-200 Boundary Scan als ein Desktop unabhängiges System, oder als ein echtes Werkzeug das in einen komplexeren Aufbau integriert ist, um elektronische Geräte zu testen und nicht individuelle Boards.
Die Software Plattform VIVA SEICA, welche den Funktionstest ATE Teil managet, ist perfekt in die DIADEM Management Software von Temento Systems integriert, verantwortlich für den Boundary Scan Testanteil, um ein einzelnes Testprogramm zu schreiben und auszuführen, welches den Funktionstest und JTAG-Type Test kombiniert, um die Testzeit zu optimieren, die Fehlerabdeckung zu maximieren, die der Tester detektieren kann und um einen einzigen Testreport zu erzeugen.
Um den Vorteil von VIVA und DIATEM Plattformen gleichzeitig zu nutzen, kann das RTE-200 Boundary Scan wie alle Seica Systeme auch mit In-Circuit Fähigkeiten ausgestattet werden, oder für die Programmierung von digitalen JTG Bausteinen, charakterisiert von TEMENTO SYSTEMS Produkten, genauso wie die innovative Testmöglichkeit "at Speed" welches ein High-Speed Testing von Memories (selbst 266 MHz) erlaubt, welches die gleiche Frequenz des Memory Controllers ist.
PILOT V8 (Automatic)
Pilot V8 ist der einzige ATE Flying Prober mit vertikaler Architektur, ausgestattet mit 8 drive/sense Flying Probes, zwei Versorgungs-Probes, zwie für den vectorlosen Test, zwei Kameras und zwei Temperatur-Sensoren, mit denen In-Circuit-Test, Funktionstest, Boundary Scan, optischer und thermischer Test an allen Arten von gedruckten Schaltungen durchgeführt werden können.
Wenn er zum Testen von neuen Baugruppen von Fertigungslosen eingesetzt wird, bietet die Pilot V8 extrem hohe Möglichkeiten. Dank der Paralleltesteigenschaft, mit der zwei Baugruppen gleichzeitig getestet werden können, wird die Produktivität verdoppelt und bietet Testzeiten, die mit den Standard Nadelbettadapter Tester vergleichbar sind, mit einer hohen Fehlerabdeckung und besserem mechanischen Zugriff auf die Leiterplatte selbst.
Wenn er zur Reparatur von Baugruppen aus dem Feld verwendet wird, erlaubt die Pilot V8 auch ein Reverse Engineering während des Testen, mit dem die Möglichkeit besteht, die CAD Projekt Daten und die Verdrahtungsliste zu rekonstruieren, wenn diese Initial nicht zur Testprogrammgeneration verfügbar sind.
Die neue Pilot V8 Automatic, entwickelt für diejenigen, die die Ausbeute beim high Volumne Test maximieren wollen, hat einen speziellen Conveyer für den automatischen Transport der Leiterplatten, kombiniert mit einem externen Lader / Entlader, erlaubt es das Testsystem ohne einen dedizierten Bediener zu betreiben.
Compact SL
Die neue In-Circuit und Funktionstestlinie Compact SL wurde inspiriert durch die WCM Standards, die zunehmend im Elektronikfertigungsbereich verbreitung finden, dies speziell in der Automotive Industrie, wo Ergonomie, kleinen Abmaßen und leichte Wartbarkeit essentielle Eigenschaften sind was ein gutes Testsystem, das robust, zuverlässig und genau ist, haben muss. Der Transport von Leiterplatten wird durch einen automatischen "pass through" Conveyer gewährleistet, voll gesteuert durch das VIVA Betriebssystem, ein Kern aller SEICA ATEs, während die Kontaktierung zwischen dem Prüfling und dem Nadelbettadapter durch eine motorisierte Presse, vollautomatisch und programmierbar erfolgt.
Compact SL ist nur 60 cm breit, aber beinhaltet alle Eigenschaften eines kompletten Testsystems , erweiterbar auf über 3000 Kanälen, mit der Möglichkeit, analoge, digitale und Funktionstests, aber auch optische Tests durchzuführen, wenn Kameras und / oder Glasfaserkabel konfiguriert sind, für die Inspektion von LCD und Lumineszenz-LED.
Compact SL verwendet den gleichen mechanischen Adapter von anderen manuellen Systemen der Compact Line, damit können bis zu 4 unabhängige JOBS laufen, um gleichzeitig maximal 4 Prüflinge zu testen.
Wenn sie für den Funktionstest konfiguriert ist, kann die Compact SL mit einer alternative Management Software als das VIVA Betriebssystem betrieben werden, wie Labview und TestStand von National Instruments um eine Standardisierung der Produktion zu erreichen.
Firefly
Seica ist seit Jahren mit der Firefly am Markt, ein System das eine einfache und flexible Lösung beim Laser Selektivlöten bietet. Projektentwicklungen, dediziert über die Jahre, um die bottom Version Firefly B60 zu verbessern und zu konsolidieren, werden nun auch auf die neue "top" System Plattform übertragen. Das Model "top" ist nun als Version "top" (Firefly T60), mit einem Lötkopf von oben oder in einer Version "top-bottom" (Firefly TB60) verfügbar mit 2 unabhängigen Lötköpfen oben und unten. Die Maschine ist mit 2 autonomen Modulen ausgestattet, jedes mit einer eigenen Laser Quelle. Die Firefly Projektphilosophie bietet Lösungen, bei der eine Integration von Laser Selektivlöten in eine bestehende Produktionslinie gefordert ist, nicht notwendigerweise entsprechend mit der SMEMA Spezifikation. Das "top" Modul verbindet das "bottom" Modul (oder den Kunden Conveyer) durch ein definiertes Interface, durch Hardware und Software.
Das Top-Löten ist weit verbreitet bei vormontierten Modulen, bei denen die Bauform den Hersteller dazu zwingt, einen speziellen Transport zu verwenden.
Die Laser Technologie beim Selektivlöten repräsentiert mehr eine Selektion des Prozesses als der einer Maschine. Die Technologie integriert im Firefly Lötkopf, kombiniert mit einer effizienten Software, erlaubt eine Charakterisierung eines stabilen thermischen Profils für jeden Lötpunkt.
Der Laser repräsentiert eine flexible Lösung, aber zur gleichen Zeit ist er wiederholbar und kontrollierbar: er ist die Lösung für die Prozesszertifikation
RTE-200 Boundary Scan
RTE-200 Boundary Scan ist die perfekte Lösung für diejenigen, die die Leistungsfähigkeit eines analogen Funktionstestsystems kombinieren möchten mit dem eines Boundary Scan Testers zum testen von digitalen Komponenten: Kompakte Bauform und Standard 19" Rack Architektur erlaubt den Anwender den Einsatz des RTE-200 Boundary Scan als ein Desktop unabhängiges System, oder als ein echtes Werkzeug das in einen komplexeren Aufbau integriert ist, um elektronische Geräte zu testen und nicht individuelle Boards.
Die Software Plattform VIVA SEICA, welche den Funktionstest ATE Teil managet, ist perfekt in die DIADEM Management Software von Temento Systems integriert, verantwortlich für den Boundary Scan Testanteil, um ein einzelnes Testprogramm zu schreiben und auszuführen, welches den Funktionstest und JTAG-Type Test kombiniert, um die Testzeit zu optimieren, die Fehlerabdeckung zu maximieren, die der Tester detektieren kann und um einen einzigen Testreport zu erzeugen.
Um den Vorteil von VIVA und DIATEM Plattformen gleichzeitig zu nutzen, kann das RTE-200 Boundary Scan wie alle Seica Systeme auch mit In-Circuit Fähigkeiten ausgestattet werden, oder für die Programmierung von digitalen JTG Bausteinen, charakterisiert von TEMENTO SYSTEMS Produkten, genauso wie die innovative Testmöglichkeit "at Speed" welches ein High-Speed Testing von Memories (selbst 266 MHz) erlaubt, welches die gleiche Frequenz des Memory Controllers ist.
