PresseBox
Press release BoxID: 739609 (rap.ID Particle Systems GmbH)
  • rap.ID Particle Systems GmbH
  • Köpenicker Str. 325/ Haus 11
  • 12555 Berlin
  • http://www.rap-id.com
  • Contact person
  • Stefan Wald
  • +49 (9331) 98941-18

Partikuläre Verunreinigung auf Bauteilen und Implantaten erkennen, beurteilen und vermeiden

rap.ID auf der parts2clean in Halle 6 D45

(PresseBox) (Berlin , ) Das moderne produktionsnahe Analysenlabor erfordert einen hohen Automatisierungsgrad bei maximaler Zuverlässigkeit der Technologie.

Auf Basis eines hochautomatisierten optischen Mikroskops stattet rap.ID die eigenentwickelten Analysegeräte mit Laser-Induzierter-Plasma-Spektroskopie (LIBS) und/oder Raman-Spektroskopie für die Erkennung und Identifizierung von Schmutzpartikeln aus.

Hören Sie dazu den Vortrag von Stefan Wald am Donnerstag, den 11.06.2015 um 11 Uhr im Fachforum:

Weitergehende Analyseverfahren in der VDA 19 - Sinn und Nutzen der Kombination mehrerer Methoden.
Die Vorteile liegen auf der Hand: Informationen über Partikelgröße, -form und -farbe werden rasch und reproduzierbar erhalten und darüber hinaus auch Härte und Leitfähigkeit ermittelt. Das Wissen um das Partikelmaterial erleichtert und verkürzt das Aufspüren der Quelle partikulärer Verunreinigung. Diese wird zielgerichtet und nachhaltig zum Versiegen gebracht.

Eleganz, Einzigartigkeit und Zuverlässigkeit dieser Messmethode liegen in der Kombination der drei Ergebnisse: Granulometrie + LIBS + Raman-Spektroskopie.

Website Promotion

rap.ID Particle Systems GmbH

Die rap.ID Particle Systems GmbH entwickelt, produziert und vertreibt seit 2002 weltweit mobile Systeme zur automatischen chemischen Analyse von Mikropartikeln aus Gasen und Flüssigkeiten, wie z.B. Medikamenten oder Prozessmedien. Mit ihren Analysegeräten führt rap.ID darüber hinaus einen weltweit einzigartigen Partikelidentifizierungsservice durch. Über 100 international erfolgreiche Unternehmen setzen auf den Wettbewerbsvorteil mit von rap.ID maßgeschneiderten Methoden und Geräten zur Isolierung, Charakterisierung und Identifizierung von Mikrometerpartikeln qualifiziert nach ISO 9001:2000.