"Die neuen RF-Messgeräte zeigen unser Engagement, Testzeiten zu verkürzen und Prüfingenieuren damit Kosteneinsparungen zu ermöglichen", so Eric Starkloff, Vice President of Test Product Marketing bei National Instruments. "Die optimierte Leistung der erweiterten RF-Messgeräte für Signale bis 6,6 GHz ermöglicht die schnellere Durchführung automatisierter RF-Tests als mit traditionellen Lösungen im Bereich der Großserienfertigung."
Mit dem RF List Mode können Anwender die neuen PXI-Expressbasierten VSG und VSA für Signale bis 6,6 GHz so konfigurieren, dass sie eine vorprogrammierte Liste von RF-Einstellungen wie Frequenz und Leistungspegel mit deterministischen Timing-Intervallen zügig abarbeiten. Der RF List Mode sorgt auch für genauere Leistungsmessungen, da er Anwendern die Optimierung des Bezugspegels für den Eingang des VSA NI PXIe-5663E erleichtert.
Im Modus mit hoher Schleifenbandbreite schwingen sich VSG und VSA erheblich schneller auf eine Mittenfrequenz ein als viele herkömmliche RF-Messgeräte. Sie erreichen typische Abstimmzeiten von 300 und 400 Mikrosekunden für Frequenzen zwischen 800 MHz und 1.950 MHz. Kürzere Einschwingzeiten ermöglichen dem Anwender, die Gesamtmesszeit bei automatisierten RF-Prüfanwendungen wesentlich zu verkürzen.
Die erweiterten PXI-Expressbasierten RF-Messgeräte bis 6,6 GHz von NI bauen auf der softwaredefinierten NI-Prüfplattform auf, die Standard-PC-Technologien wie Multicore-Prozessoren und Anbindung an PCI Express integriert. Da modulare RF-Messgeräte auf Basis von NI PXI softwaredefiniert sind, ist der Anwender der grafischen Systemdesignsoftware NI LabVIEW in der Lage, Messalgorithmen für den Test zahlreicher Wireless-Geräte so zu definieren, dass eine Prüfung fünf- bis zehnmal schneller vonstattengeht als mit traditionellen RF-Messgeräten.
Weitere Informationen über die erweiterten PXI-Expressbasierten modularen Messgeräte bis 6,6 GHz bietet die Website www.ni.com/rf/d/platform.