Die Firmen National Instruments und GÖPEL electronic werden am 12. März 2008 in Jena zum zweiten Mal ein gemeinsames Technologieforum zum Thema "Baugruppentest" veranstalten. Im Mittelpunkt stehen aktuelle Themen wie elektrische und optische Prüfung von Flachbaugruppen, Funktionstests in der Automobilentwicklung und -produktion sowie Trends und Neuigkeiten in der Mess- und Prüftechnik. Ziel des Forums ist, den Besuchern einen Überblick über aktuelle Testtechnologien, deren Anwendung und Problemlösungen vorzustellen. Entwickler und Anwender präsentieren anhand von praktischen Beispielen ihre Erfahrungen. Abgerundet wird die Veranstaltung durch eine Podiumsdiskussion, die von Herrn Hilmar Beine, Chefredakteur der Fachzeitschrift "productronic", geleitet wird.
"Nach den positiven Erfahrungen und dem großen Erfolg des ersten Technologieforums im Herbst 2006 war es ein konsequenter Schritt, dieses Event zu wiederholen", sagt Stefan Meißner, PR-Verantwortlicher bei GÖPEL electronic. "Unser Ziel ist es, zusammen mit National Instruments eine Plattform zum gemeinsamen Informationsaustausch zu schaffen und diese dauerhaft als hochwertige und nützliche Veranstaltung für alle Baugruppentest-Interessenten zu etablieren."
"Wir freuen uns sehr, mit unserem Partner GÖPEL electronic dieses Technologieforum erneut veranstalten zu können", so Rahman Jamal, Technical & Marketing Director bei National Instruments Central Europe. "Wir sind sicher, dass die Teilnehmer sich auch in diesem Jahr wieder auf interessante Präsentationen und fruchtbare Gespräche mit Experten freuen und sich umfassend über die neuesten Technologien auf dem Gebiet des Baugruppentests informieren können."
Neben einer allgemeinen Vorstellung aktueller Prüftechnologien werden die Schwerpunkte des Technologieforums auf Themen wie JTAG/Boundary Scan, optische Inspektion und Bildverarbeitung, Funktionstest, Automotive-Test sowie mögliche Kombinationen und Integrationen liegen. Applikationsberichte und eine begleitende Ausstellung werden Praxisnähe demonstrieren und der Veranstaltung einen eignen Workshop-Charakter verleihen.
Interessenten der Veranstaltung können sich online unter www.ni.com/... anmelden.
"Nach den positiven Erfahrungen und dem großen Erfolg des ersten Technologieforums im Herbst 2006 war es ein konsequenter Schritt, dieses Event zu wiederholen", sagt Stefan Meißner, PR-Verantwortlicher bei GÖPEL electronic. "Unser Ziel ist es, zusammen mit National Instruments eine Plattform zum gemeinsamen Informationsaustausch zu schaffen und diese dauerhaft als hochwertige und nützliche Veranstaltung für alle Baugruppentest-Interessenten zu etablieren."
"Wir freuen uns sehr, mit unserem Partner GÖPEL electronic dieses Technologieforum erneut veranstalten zu können", so Rahman Jamal, Technical & Marketing Director bei National Instruments Central Europe. "Wir sind sicher, dass die Teilnehmer sich auch in diesem Jahr wieder auf interessante Präsentationen und fruchtbare Gespräche mit Experten freuen und sich umfassend über die neuesten Technologien auf dem Gebiet des Baugruppentests informieren können."
Neben einer allgemeinen Vorstellung aktueller Prüftechnologien werden die Schwerpunkte des Technologieforums auf Themen wie JTAG/Boundary Scan, optische Inspektion und Bildverarbeitung, Funktionstest, Automotive-Test sowie mögliche Kombinationen und Integrationen liegen. Applikationsberichte und eine begleitende Ausstellung werden Praxisnähe demonstrieren und der Veranstaltung einen eignen Workshop-Charakter verleihen.
Interessenten der Veranstaltung können sich online unter www.ni.com/... anmelden.
