Auf der Electronica 2010 wird Geotest mit ATEasy 8.0 die neueste Ausgabe der Softwaresuite ATEasy sowie neue PXI-Digital- und PXI-FPGA-Karten vorstellen. Zu den zahlreichen zusätzlichen Fähigkeiten und Leistungsverbesserungen der integrierten Testentwicklungs- und -ausführungs-Softwaresuite ATEasy 8.0 gehören der parallele Test mehrerer UUTs, parallele sowie sequenzielle Testmöglichkeiten, bis zu 12-fache Steigerung der Testgeschwindigkeit, erweiterte Testprofile und die Unterstützung von Skriptsprachen wie TCL, PERL und SNMP. ATEasy 8.0 ist voll kompatibel zu früheren Versionen und unterstützt zahlreiche Entwicklungsumgebungen einschließlich Visual BASIC, COM, C, NET 4.0 und LabVIEW 2010. ATEasy läuft auf dem 64-Bit Windows Betriebssystem, auf Windows XP, VISTA, Windows 2000 und Windows 98. ATEasy 8.0 ist sofort verfügbar.
Geotest hat auch die PXI-Produktreihe durch neue, leistungsfähige Digitalinstrumente und neue Interface-Module für das GX3500 FPGA Modul ergänzt. Die 32-kanalige 100 MHz GX5295-Karte bietet eine der umfangreichsten Funktions- und Leistungsdaten aller auf dem Markt verfügbaren digitalen 3 HE PXI I/O-Karten und stellt eine kostengünstige Lösung für Halbleiter-Testapplikationen dar.
Die GX5295-Karte verfügt bei jedem Kanal über eine parametrische Messeinheit (PMU) sowie eine leistungsfähige Pin-Elektronik mit einem Drive-/Sense-Spannungsbereich zwischen -2 Volt und +7 Volt, die im gleichen Modul sowohl analoge, als auch digitale Tests durchführen kann.
Für digitale Testanwendungen mit höheren Spannungen hat Geotest das digitale 50 MHz Subsystem GX5960 entwickelt. Zu den herausragenden Features gehört der hohe Spannungsbereich der Pin-Elektronik (-10 V bis +15 V) sowie der Hochleistungs-Timing-Generator/Sequenzer mit 256 Timing-Sets und einer Zeitauflösung je Pin von 1 ns. Der kompakte 6 HE PXI-Einschub bietet eine kostengünstige Lösung ohne Kompromisse bei der Leistung für System-, Board- und Bauteil-Tests.
Die Karte mit einem extrem hohen Spannungsbereich der Kanäle steht in zwei Konfigurationen zur Verfügung: als GX5964 mit 32 Kanälen oder als GX5961 mit 16 Kanälen. Sie unterstützt Guided-Probe-Messungen.
Beide Karten werden mit dem DIOEasy Softwarepaket ausgeliefert. Die Software ermöglicht das Editieren und Anzeigen von Testvektoren sowie Werkzeuge für Datenimporte. Die Bedienkonsole eines virtuellen Instruments sowie 32-Bit DLL-Treiber Bibliotheken runden die Software ab.
Die GX5295-Karte ist ab 15. Oktober, die GX5960-Karte ab 1. November verfügbar.
Für anwendungsspezifische Designs steht jetzt Geotests 3 HE PXI-FPGA-Karte GX3500 mit verschiedenen Logik-Interface-Erweiterungen zur Verfügung, die unter anderem Differential-TTL, LVDS und ECL unterstützen. Die Erweiterungsmodule GX3501, GX3509, GX3510 und GX3540 bieten jeweils Mehrkanal-Interfaces für LVTTL-, Differential-TTL-, mLVDS- bzw. ECL-Logikfamilien an. Sie sind ab sofort verfügbar.
Alle Produkte werden zur Electronica 2010 am Stand 621 in Halle A1 präsentiert.
Geotest hat auch die PXI-Produktreihe durch neue, leistungsfähige Digitalinstrumente und neue Interface-Module für das GX3500 FPGA Modul ergänzt. Die 32-kanalige 100 MHz GX5295-Karte bietet eine der umfangreichsten Funktions- und Leistungsdaten aller auf dem Markt verfügbaren digitalen 3 HE PXI I/O-Karten und stellt eine kostengünstige Lösung für Halbleiter-Testapplikationen dar.
Die GX5295-Karte verfügt bei jedem Kanal über eine parametrische Messeinheit (PMU) sowie eine leistungsfähige Pin-Elektronik mit einem Drive-/Sense-Spannungsbereich zwischen -2 Volt und +7 Volt, die im gleichen Modul sowohl analoge, als auch digitale Tests durchführen kann.
Für digitale Testanwendungen mit höheren Spannungen hat Geotest das digitale 50 MHz Subsystem GX5960 entwickelt. Zu den herausragenden Features gehört der hohe Spannungsbereich der Pin-Elektronik (-10 V bis +15 V) sowie der Hochleistungs-Timing-Generator/Sequenzer mit 256 Timing-Sets und einer Zeitauflösung je Pin von 1 ns. Der kompakte 6 HE PXI-Einschub bietet eine kostengünstige Lösung ohne Kompromisse bei der Leistung für System-, Board- und Bauteil-Tests.
Die Karte mit einem extrem hohen Spannungsbereich der Kanäle steht in zwei Konfigurationen zur Verfügung: als GX5964 mit 32 Kanälen oder als GX5961 mit 16 Kanälen. Sie unterstützt Guided-Probe-Messungen.
Beide Karten werden mit dem DIOEasy Softwarepaket ausgeliefert. Die Software ermöglicht das Editieren und Anzeigen von Testvektoren sowie Werkzeuge für Datenimporte. Die Bedienkonsole eines virtuellen Instruments sowie 32-Bit DLL-Treiber Bibliotheken runden die Software ab.
Die GX5295-Karte ist ab 15. Oktober, die GX5960-Karte ab 1. November verfügbar.
Für anwendungsspezifische Designs steht jetzt Geotests 3 HE PXI-FPGA-Karte GX3500 mit verschiedenen Logik-Interface-Erweiterungen zur Verfügung, die unter anderem Differential-TTL, LVDS und ECL unterstützen. Die Erweiterungsmodule GX3501, GX3509, GX3510 und GX3540 bieten jeweils Mehrkanal-Interfaces für LVTTL-, Differential-TTL-, mLVDS- bzw. ECL-Logikfamilien an. Sie sind ab sofort verfügbar.
Alle Produkte werden zur Electronica 2010 am Stand 621 in Halle A1 präsentiert.
