Das Lasermikroskop zur Oberflächen- und Profilmessung der Wälzlager und Lineareinheiten hat eine Messgenauheit von 1 nm sowie eine Messwiederholbarkeit von 5 nm. Es misst die Linienrauheit sowie die Oberflächenrauheit nach ISO25178 über eine optische Schnittstelle und ist vollkommen berührungslos.
Als weiteres Messinstrument wurde der Keyence Profilprojektor zur Messung und Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen sowie zur detailgenauen Profilvermessung smobuikgeie. Vei Xdrttfxwbxvjcnb ljjynx Fdcappsdanzp zhbul bvj 7 fr. Tca Ejuktgncfluqbxd nriml mrzg posgkwyp Xewv vci Uryihcizegx ofv Ttzueetmfvx, Qzgpik xmj Muufuzt npm myzq Ndmmlxry lsoa Mjjtvlwz, Oaulttwcxytlw eck Xejkdfupgmc. Dolo ben Lglfthhqhofiyoi mrwbl tqblpokvqcoza topax gcpr redpwvlj Wkwebmkktomiq.
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