Mit den Fortschritten der letzten Jahre in der Mikro-Röntgenfluoreszenz stehen mittlerweile ausgereifte Instrumente für die Elementaranalyse von einerseits mikroskopisch kleinen und andererseits makroskopischen Bereichen einer Probe zur Verfügung. Damit erschließen sich vielseitige Anwendungsfelder in der Materialforschung, der Forensik, der Motorenanalytik, oder auch die Nutzung zum Troubleshooting um z.B. Fehlstellen und Einschlüsse in Spritzgusserzeugnissen zu identifizieren.
Sind dabei die Vorkenntnisse über die Probe gering, ist es von großem Nutzen, wenn die Messdaten mit einer Datenbank abgeglichen und die potentiellen Kandidaten auf Übereinstimmung überprüft werden können.
HORIBA Scientific (vormals HORIBA Jobin Yvon) bietet mit der XGT Plattform die geeigneten Instrumente, und mit der RFA-Datenbanksoftware SLICE(TM) die geeignete Software an, um die Identifikation von unbekannten Materialien einfach und komfortabel zu gestalten. Die Instrumente der XGT-5000er und XGT-7000er Serie bieten herausragende Empfindlichkeit und höchste Ortsauflösung, von 10 µm bis 3 mm Messfleckgröße. Damit lassen sich schnell besonders interessante Probenbereiche identifizieren und elementaranalytisch erfassen. Da keine Probenvorbereitung nötig ist, können Messdaten sehr schnell gewonnen werden und mit der SLICE(TM) Plattform steht das geeignete Werkzeug zur Verwaltung und Identifizierung der Daten zur Verfügung.
SLICE(TM) wurde von xk Incorporated in Zusammenarbeit mit dem FBI ursprünglich für den forensischen Bereich entwickelt und bietet folgende Möglichkeiten:
- den Abgleich unbekannter Spektren mit der natürlich wachsenden spektralen Datenbank
- die Identifikation und Klassifizierung von Spektren, die für eine quantitative Analyse ungeeignet wären (zu kleine Probe oder unregelmäßig geformter Probenbereich etc.)
- die Archivierung der Ergebnisse mit Probenbeschreibung, Bildern, externen Dokumenten (PDF, Word, Excel, PowerPoint, alle gebräuchlichen Bildformate) und Schlussfolgerungen. Dies ermöglicht eine komplette Nachverfolgbarkeit und macht zukünftige Fragestellungen oft schneller lösbar.
- SLICE(TM) reduziert zudem maßgeblich die Abhängigkeit der Analysenergebnisse vom jeweiligen Operator.
- SLICE(TM) kann in Verbindung mit jedem PCbetriebenem XRF- oder EDX-Instrument verwendet werden
Bei Fragen zum Thema Mikro-RFA und Datenbanken sprechen Sie uns gerne an!
Sind dabei die Vorkenntnisse über die Probe gering, ist es von großem Nutzen, wenn die Messdaten mit einer Datenbank abgeglichen und die potentiellen Kandidaten auf Übereinstimmung überprüft werden können.
HORIBA Scientific (vormals HORIBA Jobin Yvon) bietet mit der XGT Plattform die geeigneten Instrumente, und mit der RFA-Datenbanksoftware SLICE(TM) die geeignete Software an, um die Identifikation von unbekannten Materialien einfach und komfortabel zu gestalten. Die Instrumente der XGT-5000er und XGT-7000er Serie bieten herausragende Empfindlichkeit und höchste Ortsauflösung, von 10 µm bis 3 mm Messfleckgröße. Damit lassen sich schnell besonders interessante Probenbereiche identifizieren und elementaranalytisch erfassen. Da keine Probenvorbereitung nötig ist, können Messdaten sehr schnell gewonnen werden und mit der SLICE(TM) Plattform steht das geeignete Werkzeug zur Verwaltung und Identifizierung der Daten zur Verfügung.
SLICE(TM) wurde von xk Incorporated in Zusammenarbeit mit dem FBI ursprünglich für den forensischen Bereich entwickelt und bietet folgende Möglichkeiten:
- den Abgleich unbekannter Spektren mit der natürlich wachsenden spektralen Datenbank
- die Identifikation und Klassifizierung von Spektren, die für eine quantitative Analyse ungeeignet wären (zu kleine Probe oder unregelmäßig geformter Probenbereich etc.)
- die Archivierung der Ergebnisse mit Probenbeschreibung, Bildern, externen Dokumenten (PDF, Word, Excel, PowerPoint, alle gebräuchlichen Bildformate) und Schlussfolgerungen. Dies ermöglicht eine komplette Nachverfolgbarkeit und macht zukünftige Fragestellungen oft schneller lösbar.
- SLICE(TM) reduziert zudem maßgeblich die Abhängigkeit der Analysenergebnisse vom jeweiligen Operator.
- SLICE(TM) kann in Verbindung mit jedem PCbetriebenem XRF- oder EDX-Instrument verwendet werden
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