Auf den ZVO-Oberflächentagen 2026 in Karlsruhe zeigt sich die HELMUT FISCHER GRUPPE mit der Produktneuheit FISCHERSCOPE® XDAL®. Das High-End-Analysegerät zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse misst mittels Röntgenfluoreszenz (XRF) und beeindruckt nicht nur mit modernem Facelift, sondern insbesondere schnelleren und smarteren Messabläufen. In Kombination mit der KI-gestützten XRF-Software FISIQ® X setzt FISCHER mit der neuen Gerätegeneration neue Maßstäbe für eine noch effizientere Qualitätskontrolle.
Vorgestellt wird das FISCHERSCOPE® XDAL®, welches speziell für hochpräzise Messungen dünner und sehr dünner Beschichtungen entwickelt wurde. Dank optimierter Messgeometrie, deutlich beschleunigter Probenpositionierung sowie der neuen benutzerfreundlichen Software FISIQ® X, bietet das XDAL® ein Höchstmaß an Effizienz und Messsicherheit. Insbesondere für Anwendungen in der Galvano- und Beschichtungsindustrie sowie der Elektronikbranche eröffnet das XDAL® neue Möglichkeiten für eine zuverlässige Qualitätskontrolle.
Neben der Präsentation des neuen FISCHERSCOPE® XDAL® erwartet die Besucher der ZVO-Oberflächentage auch ein fachliches Vortragsprogramm. Im Rahmen des Vortrags „XRF – Wahl des richtigen Anodenmaterials“ zeigt FISCHER Expertin Johanna Malina Zeiss, welchen Einfluss die Wahl des Anodenmaterials auf die Leistungsfähigkeit von Röntgenfluoreszenzmessungen hat und welche Aspekte bei der Auswahl berücksichtigt werden sollten.
Das Team von FISCHER freut sich auf den persönlichen Austausch an Stand 44.
Vorgestellt wird das FISCHERSCOPE® XDAL®, welches speziell für hochpräzise Messungen dünner und sehr dünner Beschichtungen entwickelt wurde. Dank optimierter Messgeometrie, deutlich beschleunigter Probenpositionierung sowie der neuen benutzerfreundlichen Software FISIQ® X, bietet das XDAL® ein Höchstmaß an Effizienz und Messsicherheit. Insbesondere für Anwendungen in der Galvano- und Beschichtungsindustrie sowie der Elektronikbranche eröffnet das XDAL® neue Möglichkeiten für eine zuverlässige Qualitätskontrolle.
Neben der Präsentation des neuen FISCHERSCOPE® XDAL® erwartet die Besucher der ZVO-Oberflächentage auch ein fachliches Vortragsprogramm. Im Rahmen des Vortrags „XRF – Wahl des richtigen Anodenmaterials“ zeigt FISCHER Expertin Johanna Malina Zeiss, welchen Einfluss die Wahl des Anodenmaterials auf die Leistungsfähigkeit von Röntgenfluoreszenzmessungen hat und welche Aspekte bei der Auswahl berücksichtigt werden sollten.
Das Team von FISCHER freut sich auf den persönlichen Austausch an Stand 44.
