Die neue 8-Kanal-Oszilloskopfamilie EXR ist bereits bei dataTec verfügbar. Die Serie umfasst acht Modelle unterschiedlicher Bandbreiten von 500 MHz, 1 GHz, 2 GHz und 2,5 GHz, wahlweise mit vier oder acht Analogkanälen. Durch die Vielzahl verfügbarer Hard- und Software-Optionen lassen sich die Oszilloskope optimal an unterschiedliche Messaufgaben anpassen. Hervorzuheben ist die Multifunktionalität des Oszilloskops. Es vereint bis zu sieben Messgeräte, die sich typischerweise auf einem Labortisch befinden: Logik- und Protokoll-Analysator, 4-stelliges Digitalvoltmeter, 10-stelliger Zähler, 50-MHz-Arbiträrgenerator und ein 50-MHz-Frequenzgang-Analysator (FRA, Frequency Response Analyzer).
Neu ist der sog. „Fault Hunter“, ein innovatives Expertensystem zur Inspektion digitaler Systeme, das per Knopfdruck auf der Frontplatte aktiviert werden kann. Die Kriterien zur Aufnahme eines Signalfehlers lassen sich individuell einstellen, z. B. positive / negative Glitches, Signalflanken-Steilheiten, Amplitudenbereiche usw. Die Testdauer kann von 60 Minuten bis 48 Stunden festgelegt werden. Mit einer Auflösung von 200.000 Kurvenformen pro Sekunde wird praktisch jeder Fehler erfasst und kann auch nach einer langen Testdauer von 48 Stunden aus dem Speicher abgerufen und verifiziert werden.
Weiterer Vorteil des Oszilloskops ist seine herausragende Genauigkeit: Mit einer Amplitudenauflösung von 10 Bit bzw. mit der Hochauflösung bis 16 Bit, einem ENOB (Effective Number of Bits) von 9, einer Abtastrate von 16 GSa/s für jeden der acht Kanäle, einem Eigenjitter von < 118 fs und einem Rauschfaktor von 41 µV (bei 1 mV/div) erreicht Keysight einen neuen Meilenstein in der Genauigkeit von Oszilloskopen.
Mit optionalen Messfunktionen lässt sich das Oszilloskop auf die jeweilige Messanforderung abstimmen. Exemplarisch aufgeführt werden hier:
Messungen an Schaltnetzteilen: Leistung, Schein-/Blindleistung, Leistungsfaktor, Crest Faktor, Phasenwinkel, Stromharmonische, Einschaltstrom, Schaltverluste, Sättigungsspannung an Leistungshalbleitern, Widerstand im eingeschalteten Zustand (RDSon), Bereichsgrenzen für sichere Arbeitszustände, Modulationsanalyse, Ausgangsripple, Ein-/Ausschaltzeiten, Transientenanalyse, Power Supply Rejection Ratio, Control Loop Response, Bode-Diagramm
Power Rail and PMIC Integrity: Messungen an Geräte-Versorgungsspannungen
Protocol Layer Testing: Protokoll-Triggerung und -Decodierung erleichtern das Debuggen und Testen digitaler Designs
Physical Layer Testing: Qualifizierung des Augendiagramms entlang der Signalstrecke bis zum Empfänger (das sich schließende Augendiagramm führt letztlich zu Datenverfälschung bzw. zu Fehlern)
ISI (Intersymbol Interferance): Rauschen und Signaldämpfung sind die wesentlichen Einflussgrößen auf die am Empfänger ankommende Signalqualität. Eine Fehleranalyse hilft die Ursachen ausfindig zu machen.
Das EXR-Oszilloskop kann durch optionale Software-Anwendungen erweitert werden, u. a.:
Neu ist der sog. „Fault Hunter“, ein innovatives Expertensystem zur Inspektion digitaler Systeme, das per Knopfdruck auf der Frontplatte aktiviert werden kann. Die Kriterien zur Aufnahme eines Signalfehlers lassen sich individuell einstellen, z. B. positive / negative Glitches, Signalflanken-Steilheiten, Amplitudenbereiche usw. Die Testdauer kann von 60 Minuten bis 48 Stunden festgelegt werden. Mit einer Auflösung von 200.000 Kurvenformen pro Sekunde wird praktisch jeder Fehler erfasst und kann auch nach einer langen Testdauer von 48 Stunden aus dem Speicher abgerufen und verifiziert werden.
Weiterer Vorteil des Oszilloskops ist seine herausragende Genauigkeit: Mit einer Amplitudenauflösung von 10 Bit bzw. mit der Hochauflösung bis 16 Bit, einem ENOB (Effective Number of Bits) von 9, einer Abtastrate von 16 GSa/s für jeden der acht Kanäle, einem Eigenjitter von < 118 fs und einem Rauschfaktor von 41 µV (bei 1 mV/div) erreicht Keysight einen neuen Meilenstein in der Genauigkeit von Oszilloskopen.
Mit optionalen Messfunktionen lässt sich das Oszilloskop auf die jeweilige Messanforderung abstimmen. Exemplarisch aufgeführt werden hier:
Messungen an Schaltnetzteilen: Leistung, Schein-/Blindleistung, Leistungsfaktor, Crest Faktor, Phasenwinkel, Stromharmonische, Einschaltstrom, Schaltverluste, Sättigungsspannung an Leistungshalbleitern, Widerstand im eingeschalteten Zustand (RDSon), Bereichsgrenzen für sichere Arbeitszustände, Modulationsanalyse, Ausgangsripple, Ein-/Ausschaltzeiten, Transientenanalyse, Power Supply Rejection Ratio, Control Loop Response, Bode-Diagramm
Power Rail and PMIC Integrity: Messungen an Geräte-Versorgungsspannungen
Protocol Layer Testing: Protokoll-Triggerung und -Decodierung erleichtern das Debuggen und Testen digitaler Designs
Physical Layer Testing: Qualifizierung des Augendiagramms entlang der Signalstrecke bis zum Empfänger (das sich schließende Augendiagramm führt letztlich zu Datenverfälschung bzw. zu Fehlern)
ISI (Intersymbol Interferance): Rauschen und Signaldämpfung sind die wesentlichen Einflussgrößen auf die am Empfänger ankommende Signalqualität. Eine Fehleranalyse hilft die Ursachen ausfindig zu machen.
Das EXR-Oszilloskop kann durch optionale Software-Anwendungen erweitert werden, u. a.:
- InfiniiScan Advanced und Zone Triggering
- Vertical, Timing und Phase Noise Analysis
- Deembedding zur Kompensation der Signaleinflüsse bedingt durch die Messanordnung
- Equalization und Crosstalk (Entzerren und Übersprechen)
- PAM3- und PAM4-Analyse (Pulse Amplitude Modulation)
