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FRT ermöglicht mit zwei neuen Messgeräten den Einstieg in die optische Oberflächenmesstechnik

Präsentation auf der CONTROL 2009

(PresseBox) (Landshut, )
Gleich zwei neue und budgetfreundliche Messgeräte stellt FRT auf der Control 2009 vor, die passgenau auf Aufgabenstellungen wie die optische Untersuchung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie sowie die Messung der Schichtdicke zugeschnitten sind: der MicroSpy Profile für die optische scannende Messung von Rauheit, Kontur, 3D-Topographie und der MicroSpy FT für die Messung von Schichtdicke.



Mit den neuen Geräten ergänzen die Experten für Oberflächenmesstechnik das erstmals 2008 vorgestellte Konfokalmikroskop MicroSpy Topo um zwei weitere Economy-Messgeräte, die sich durch hohe Wirtschaftlichkeit und zugleich optimale Leistungsdaten (z.B. Messung nach DIN und ISO) auszeichnen.



MicroSpy Messgeräte sind kompakte Single-Sensor-Systeme mit einer zusätzlichen CCD-Kamera für die komfortable Positionierung der Probe unterhalb des Messkopfes. Dies erfolgt mittels eines motorisierten Verfahrtisches in x,y-Richtung. Je nach Modell erfolgt die Annährung des Sensors an die Probe in axialer Richtung über eine manuelle Verstelleinheit mit Grob- und Feintrieb oder mit einer motorisierten z-Achse.



FRT bietet zwei Sensortechnologien für den Einsatz in den MicroSpy Geräten an. Im MicroSpy Topo kommt die flächenhaft messende konfokale Mikroskopie zum Einsatz. In den beiden neuen Geräten wird ein chromatischer Punktsensor verbaut. Die Punktsensoren werden von FRT mit unterschiedlichen Messbereichen geliefert, sodass ein breites Anwendungsspektrum auf unterschiedlichsten Oberflächen abgedeckt wird.



Um mehr über die Geräte der MicroSpy Serie zu erfahren und den neuen MicroSpy Profile live in Aktion zu erleben, besuchen Sie FRT auf der Control in Halle 7, Stand 7232!

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Seit 13 Jahren bietet FRT Multisensor-Messgeräte und Software für die wachsende Nachfrage nach Lösungen zur zerstörungsfreien Charakterisierung von Oberflächen. Alle Messsysteme aus dem Hause FRT arbeiten metrologisch, also mit hoher Ergebnisreproduzierbarkeit und rückführbarer Präzision. Die zerstörungsfreie und wahlweise vollautomatische Vermessung und Auswertung von Strukturen, welche in Größenordnungen eines Millionstel-Millimeters liegen können, zählen dabei zu den ausgewiesenen Stärken des Mittelständlers aus Bergisch Gladbach. Der Kundenkreis ist branchen- und technologieübergreifend zusammengesetzt und besteht aus internationalen Unternehmen und Forschungseinrichtungen der Photovoltaik, Mikroelektronik, Mikrosystemtechnik, Optik, Medizintechnik, Automobilindustrie und anderen. Unternehmen wie Wacker Schott Solar, Roche, Daimler, Bosch oder Infineon nutzen FRT Technik zur Charakterisierung von Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke und vielem mehr. FRT unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz, ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa sowie eine Niederlassung in München.

Die FRT, Fries Research & Technology GmbH ist Mitglied im Cluster Mikrosystemtechnik.

Unternehmen miteinander und mit der anwendungsorientierten Forschung der Hochschulen zu vernetzen, das ist die Aufgabe des Clusters Mikrosystemtechnik. Als kompetenter, wertneutraler und unabhängiger Koordinator unterstützen wir mittelständische Unternehmen darin, ihre Wettbewerbsfähigkeit und Innovationskraft durch disziplinübergreifende Zusammenarbeit nachhaltig zu stärken.

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