Sparen Sie Zeit und testen Sie 750V SiC FET auf BeFAST

SiC-FET der nächsten Generation auf DPT-Platine übernommen

Sparen Sie Zeit und testen Sie 750V SiC FET auf BeFAST
(PresseBox) ( Zürich, )
Angst+Pfister stellt Update für das BeFAST Testboard vor

Angst+Pfister hat das BeFAST-Testboard entwickelt, um den Kunden die Zeit für einzelne Produktanalysen und Auswahl der Komponenten, wie digitale Isolierung oder isolierte DC/DC-Wandlung, zu ersparen.

Das Test Board verfügt über einen leistungsstarken Gate-Treiber, der volle Funktionalität von Anfang an ermöglicht.

Mit dem BeFAST kann schnell der Doppelimpulstest durchgeführt werden. Der Betrieb einer Last in Verbindung mit einem Kühlkörper ist ebenfalls möglich.

Angst+Pfister hat das BeFAST-Testboard entwickelt, mit dem Kunden Zeit für die Produktanalyse und Auswahl der zugehörigen Teile wie digitale Isolierung oder isolierte DC/DC-Wandlung sparen können. Es verfügt über einen leistungsstarken Gate-Treiber, der die volle Funktion bietet und entweder den Doppelimpulstest oder eine Standardlast mit einem Kühlkörper ausführen kann.

Mit wenig Aufwand kann das vorhandene Testboard modifiziert werden, um die sehr schnellen 750V 18mOhm SiC FETs mit Kelvin Source Pin (TO247-4L) zu testen. Das gut abgestimmte Board-Layout-Design ermöglicht es Kunden nun, bereits etablierte SiC-FET-Generationen zu vergleichen. Weitere Updates folgen.

Bestellnummer: AP-EVAL-UJ4C075010K4S
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