Die Analysatoren BERTScope 7500A und BERTScope 12500A von SyntheSys Research ermöglichen umfangreiche Messungen an digitalen Übertragungssystemen mit 10 Mbit/s bis 7.5 Gbit/s bzw. 12,5 Gbit/s. Diese Geräte sind die ersten Multi-Gbit/s Messinstrumente einer neuen Generation, die die Erzeugung von Bitmusterfolgen und die Analyse der Bitfehlerraten mit einer schnellen Augendiagrammmessung und -analyse kombiniert.
Die Augendiagramme basieren auf einer sehr großen Zahl tatsächlich gemessener Wellenformen. Die Datenerfasssung erfolgt durch den gleichen Multi-Gbit/s Sampling Mechanismus, der auch zur Bitfehlerratenbestimmung genutzt wird. Dies ermöglicht eine wesentlich vollständigere Charakterisierung der Wellenformabweichungen bei sehr langen Pseudo-Zufalls Bitfolgen (PRBS) im Vergleich zu Lösungen bestehend aus separatem BERT und digitalem Speicheroszilloskop. Digitale Speicheroszilloskope sind zudem aufgrund Ihrer relativ geringen max. Sample-Frequenz limitiert.
Eine weitere Neuheit ist, dass das Augendiagramm gemessene Daten zeigt, welche direkt mit der Bitfehlerratenmessung korreliert sind. Maskentests sind sehr einfach und schnell durchzuführen. Die Anpassung der Entscheidungsschwellen für den Maskentest und Verwendung der eingebauten BitAlyzer ® Error Location AnylysisTM Option ermöglicht dem Anwender eine sehr einfache Bestimmung der Fehlerursache für den worst-case Jitter oder für die geringste Anstiegszeit. Ebenso lässt sich sehr einfach herausfinden, welches bestimmtes Bit und welche Bitmusterfolge verantwortlich für einen Verletzung der Maske im Augendiagramm sind.
Der BERTScope mit BitAlyzer ® Error Location AnylysisTM ermöglicht sieben fortschrittliche Fehleranalyseverfahren. Die Messoption „Pattern Sensitivity“ in Verbindung mit der Bestimmung fehlerfreier Zeitintervalle („Error Free Intervals Analysis“) ermöglicht auf einfachste Art und Weise die Identifizierung von Bitfehler in Abhängigkeit von der Bitmusterfolge und der Frequenz.
Die von SyntheSys Research entwickelten hochauflösenden (Subpikosekundenbereich) und selbst kalibrierenden Verzögerungsstrecken (zum Patent angemeldet), ermöglichen die genaue Messung des Jitters, sowie die Unterscheidung des deterministischen und zufälligen Jitteranteils.
Neben der Jitter Peak (Jitter Bathtub, BERT Scan) Messoption steht auch eine sehr genaue BER Contour Analyse zur Verfügung. Auch hier sind die zugrunde liegenden Messdaten mit der BERT Messung direkt korreliert.
Neue Hochgeschwindigkeitsschnittstellen wie CEI, XFP/XFI, 10 Gb Ethernet , 4 Gb und 8 oder 10 Gb FiberChannel generieren einen neuen Bedarf an Testmöglichkeiten und Methoden zur detaillierten Analyse der Leistungsfähigkeit dieser Schnittstellen. SyntheSys Research BERTScope Analysatoren bieten hierfür als Option die Messung des Q-Faktors und der Bestimmung der BER-Contour und des Jitter Peak . Die zusätzliche Option „Stressed Eye Analysis“ ermöglicht sinusförmigen Jitter und zufälligen Jitter in das Signal zu mischen um „Stressed Eye“- Augendiagramm-Messungen durchzuführen.
Der SyntheSys Research BERTScope ermöglicht eine Vielzahl unterschiedlicher Messungen für die digitale Kommunikationstechnik. Er kombiniert dabei Messmethoden, die bisher eine Reihe verschiedener Messgeräte erforderten oder in derselben Geschwindigkeit bisher nicht durchführbar waren.
Der BERTScope 12500 A ermöglicht Messungen von Bitfehlerraten in Kombination mit Augendiagrammmessungen (Maskentest), Bitfehlerlokalisation und umfangreichen Jittermessungen.
Die Augendiagramme basieren auf einer sehr großen Zahl tatsächlich gemessener Wellenformen. Die Datenerfasssung erfolgt durch den gleichen Multi-Gbit/s Sampling Mechanismus, der auch zur Bitfehlerratenbestimmung genutzt wird. Dies ermöglicht eine wesentlich vollständigere Charakterisierung der Wellenformabweichungen bei sehr langen Pseudo-Zufalls Bitfolgen (PRBS) im Vergleich zu Lösungen bestehend aus separatem BERT und digitalem Speicheroszilloskop. Digitale Speicheroszilloskope sind zudem aufgrund Ihrer relativ geringen max. Sample-Frequenz limitiert.
Eine weitere Neuheit ist, dass das Augendiagramm gemessene Daten zeigt, welche direkt mit der Bitfehlerratenmessung korreliert sind. Maskentests sind sehr einfach und schnell durchzuführen. Die Anpassung der Entscheidungsschwellen für den Maskentest und Verwendung der eingebauten BitAlyzer ® Error Location AnylysisTM Option ermöglicht dem Anwender eine sehr einfache Bestimmung der Fehlerursache für den worst-case Jitter oder für die geringste Anstiegszeit. Ebenso lässt sich sehr einfach herausfinden, welches bestimmtes Bit und welche Bitmusterfolge verantwortlich für einen Verletzung der Maske im Augendiagramm sind.
Der BERTScope mit BitAlyzer ® Error Location AnylysisTM ermöglicht sieben fortschrittliche Fehleranalyseverfahren. Die Messoption „Pattern Sensitivity“ in Verbindung mit der Bestimmung fehlerfreier Zeitintervalle („Error Free Intervals Analysis“) ermöglicht auf einfachste Art und Weise die Identifizierung von Bitfehler in Abhängigkeit von der Bitmusterfolge und der Frequenz.
Die von SyntheSys Research entwickelten hochauflösenden (Subpikosekundenbereich) und selbst kalibrierenden Verzögerungsstrecken (zum Patent angemeldet), ermöglichen die genaue Messung des Jitters, sowie die Unterscheidung des deterministischen und zufälligen Jitteranteils.
Neben der Jitter Peak (Jitter Bathtub, BERT Scan) Messoption steht auch eine sehr genaue BER Contour Analyse zur Verfügung. Auch hier sind die zugrunde liegenden Messdaten mit der BERT Messung direkt korreliert.
Neue Hochgeschwindigkeitsschnittstellen wie CEI, XFP/XFI, 10 Gb Ethernet , 4 Gb und 8 oder 10 Gb FiberChannel generieren einen neuen Bedarf an Testmöglichkeiten und Methoden zur detaillierten Analyse der Leistungsfähigkeit dieser Schnittstellen. SyntheSys Research BERTScope Analysatoren bieten hierfür als Option die Messung des Q-Faktors und der Bestimmung der BER-Contour und des Jitter Peak . Die zusätzliche Option „Stressed Eye Analysis“ ermöglicht sinusförmigen Jitter und zufälligen Jitter in das Signal zu mischen um „Stressed Eye“- Augendiagramm-Messungen durchzuführen.
Der SyntheSys Research BERTScope ermöglicht eine Vielzahl unterschiedlicher Messungen für die digitale Kommunikationstechnik. Er kombiniert dabei Messmethoden, die bisher eine Reihe verschiedener Messgeräte erforderten oder in derselben Geschwindigkeit bisher nicht durchführbar waren.
Der BERTScope 12500 A ermöglicht Messungen von Bitfehlerraten in Kombination mit Augendiagrammmessungen (Maskentest), Bitfehlerlokalisation und umfangreichen Jittermessungen.
