Vom 11.-15. Mai findet im japanischen Osaka der 10. Weltkongress zur Partikeltechnologie statt. Die LUM GmbH, weltweit anerkannt für wissenschaftliche und messtechnische Expertise, spezialisiert auf Partikelcharakterisierung, Stabilitätsbewertung von Suspensionen und Emulsionen, Bestimmung von Haftfestigkeiten, freut sich dieses Event aktiv als Sponsor zu unterstützen.
Zum Kerngeschäft der LUM GmbH zählen die analytischen Zentrifugen für die Partikel- und Dispersionscharakterisierung. Schon 1994 war eine analytische Zentrifuge in der Gründungsidee für das Unternehmen enthalten. Ab 1998 werden diese Messgeräte aus Berlin als kommerzielle Produkte mit den Markennamen LUMiFuge und LUMiSizer weltweit verkauft und weiterentwickelt. Ab 2011 erweitert die analytische Zentrifuge LUMiFrac den Anwendungsbereich um die Materialprüfung von Beschichtungen und Kompositwerkstoffen.
In einer Special Session, organisiert von Prof. Dr. Dr. Lerche, Gründer und Managing Director der LUM GmbH, feiert nun die Community 100 Jahre Analytische (Ultra-) Zentrifugation. Den Auftakt bildet sein Vortrag „From the development of the Svedberg Analytical Ultracentrifuge to current numerous applications of AC and AUC sedimentation analysis”.
Zu den spannenden Themen dieser Session zählen unter anderem: “Characterization of nanoparticles – Global analysis of sedimentation data from multiwavelength analytical ultracentrifugation and analytical centrifugation” (Spruck et al.), “Surface Modification of Silica Particles and Its Influence on Particle–Liquid Interactions” (Takai-Yamashita), “A Method for Determining the Hamaker Constant of Particulate Materials Using Sedimentation Technique” (Takeda et al.), “Analytical-centrifugation-informed dispersion formulation and thin film fabrication of gas-phase synthesized graphene” (Segets), welche die Leistungsfähigkeit und Vielseitigkeit der analytischen Zentrifuge LUMiSizer für aktuelle und zukünftige Herausforderungen unter Beweis stellen.
Mit den weiteren wissenschaftlichen Beiträgen “Single Particle Light Scattering Analysis: A Simple, High-Resolution Approach to Nano- and Microparticle Counting and Sizing” und “Reliably Counting the Unseen: Establishing a First-of-its-Kind Nanoscale Number Concentration Standard” (Hood et al.) teilt LUM eigene Erkenntnisse auf dem Gebiet der Einzelpartikelcharakterisierung mit dem forschenden Fachpublikum. Eher an industrielle Anwender richtet sich der Beitrag von Lerche “In-Line Characterizing Concentrated Liquid dispersions by means of Spectral Reflectance Measurement”.
Die Bedeutung der LUM-Technologien für die wissenschaftlichen und industriellen Problemlösungen in den Bereichen Partikelgrößenanalytik und industrielle Trenntechnik unterstreichen die Vorträge der renommierten Referenten Babick und Gleiss zu den Themen „Comparability of sedimentation-based particle size analysis: Impact of measurement technique and operational parameters“ und „Enhancing Solid Bowl Centrifuge Scale-up Through Analytical Centrifugation and Numerical Modeling“.
LUM GmbH wünscht allen Teilnehmern einen spannenden Kongress und einen intensiven Austausch.
Ausführliche Informationen zum Weltkongress finden Sie hier: https://wcpt10.org/
Zum Kerngeschäft der LUM GmbH zählen die analytischen Zentrifugen für die Partikel- und Dispersionscharakterisierung. Schon 1994 war eine analytische Zentrifuge in der Gründungsidee für das Unternehmen enthalten. Ab 1998 werden diese Messgeräte aus Berlin als kommerzielle Produkte mit den Markennamen LUMiFuge und LUMiSizer weltweit verkauft und weiterentwickelt. Ab 2011 erweitert die analytische Zentrifuge LUMiFrac den Anwendungsbereich um die Materialprüfung von Beschichtungen und Kompositwerkstoffen.
In einer Special Session, organisiert von Prof. Dr. Dr. Lerche, Gründer und Managing Director der LUM GmbH, feiert nun die Community 100 Jahre Analytische (Ultra-) Zentrifugation. Den Auftakt bildet sein Vortrag „From the development of the Svedberg Analytical Ultracentrifuge to current numerous applications of AC and AUC sedimentation analysis”.
Zu den spannenden Themen dieser Session zählen unter anderem: “Characterization of nanoparticles – Global analysis of sedimentation data from multiwavelength analytical ultracentrifugation and analytical centrifugation” (Spruck et al.), “Surface Modification of Silica Particles and Its Influence on Particle–Liquid Interactions” (Takai-Yamashita), “A Method for Determining the Hamaker Constant of Particulate Materials Using Sedimentation Technique” (Takeda et al.), “Analytical-centrifugation-informed dispersion formulation and thin film fabrication of gas-phase synthesized graphene” (Segets), welche die Leistungsfähigkeit und Vielseitigkeit der analytischen Zentrifuge LUMiSizer für aktuelle und zukünftige Herausforderungen unter Beweis stellen.
Mit den weiteren wissenschaftlichen Beiträgen “Single Particle Light Scattering Analysis: A Simple, High-Resolution Approach to Nano- and Microparticle Counting and Sizing” und “Reliably Counting the Unseen: Establishing a First-of-its-Kind Nanoscale Number Concentration Standard” (Hood et al.) teilt LUM eigene Erkenntnisse auf dem Gebiet der Einzelpartikelcharakterisierung mit dem forschenden Fachpublikum. Eher an industrielle Anwender richtet sich der Beitrag von Lerche “In-Line Characterizing Concentrated Liquid dispersions by means of Spectral Reflectance Measurement”.
Die Bedeutung der LUM-Technologien für die wissenschaftlichen und industriellen Problemlösungen in den Bereichen Partikelgrößenanalytik und industrielle Trenntechnik unterstreichen die Vorträge der renommierten Referenten Babick und Gleiss zu den Themen „Comparability of sedimentation-based particle size analysis: Impact of measurement technique and operational parameters“ und „Enhancing Solid Bowl Centrifuge Scale-up Through Analytical Centrifugation and Numerical Modeling“.
LUM GmbH wünscht allen Teilnehmern einen spannenden Kongress und einen intensiven Austausch.
Ausführliche Informationen zum Weltkongress finden Sie hier: https://wcpt10.org/
