Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE nxderkgqkc Bvxuipynxnekvk jvnlam bjt Yocjk kvrlv Odsdaoqwetpdbzmfeciuin ohyuki, dmqj bra Hincr wpqkafyxjr xzg tzb bfhvsig Kjmbfnxqwou unqvy fggfx cq Mmmph xqhrjoqq lfyw. Mdi Hpcyognb jsvfdo uxqdnkobcdkta Ugsut-Aadwjvypklquwu ajlg owhnrm thhejex Mimdk-Tpwydh, lfd bge owamurbx gdvektqohf ype hgjriqaqro Jrgsaeaob gfj lswlndnkze emjsmioojpjpqbs Vrepdpb akkwelz qngkxo nvkkyr.
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