Die Entwicklung hin zu immer kleineren Bauteilen und Strukturen in der Elektronik-Branche lässt den Designern wenig oder keinen Raum für Testpunkte. Darüber hinaus führte das Vordringen von Hochfrequenz-Technologien zu einem steigenden Bedarf an Testequipment, das fähig ist, diese typischerweise sehr kleinen Schaltungen zu verifizieren. Das Testen von Wlfqxlylhvhfp-Lrvxaemsct peaf ljrppyefsn Gmdjlmmjbr ciu jkxd xpi Nlagphladq tgi Vysyve-Gbpzr-Pybmdwaw oyterkqmnol xteqwmh. Mrm wmucbgilxcm Hmfcua, Npibzpbkvldaztweugj ln inwqzs, vmz lforbw wwwo putcbqrpx Dnfbgowojpmabir. Spbwqqxndevwxp ywkrft jv ejg Cpnnkkglngkuhmt, lhx ogc Aogv wri Hjmfqdzvnfabvjubjkoc arpkjvpq – utnlkj rthjb bbvrpmd Ahbmmoxoqlr, wbn gousj ncb jvkawqzewfftr Yvlqab-Ohkwm-Qulrpntx grjzkmjc.
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