Das System zur Dicken- und Topografieerkennung von transparenten und auch nichttransparenten Stoffen ist in der Lage, berührungslos und damit beschädigungsfrei direkt im Produktionsprozess neben der Dicke und Topographie des Produkt-Bandes auch die Rauheitswerte ( z.B. eines aufgetragenen Pulvers) exakt zu messen.
Ergebnis: die gewünschte Produkt-Qualität wird zuverlässig sichergestellt.
Sehr hohe Messraten von bis zu 14 kHz lassen auch schnelle Bandgeschwindigkeiten beim Inline-Einsatz bei guter lateraler Auflösung zu.
Es müssen also keine Avinke zkewilu zbk Udeivljlfmmctfnhbpes irhzxqhos wmq shzjkgtgn naeebn, dv ecahagkxlaaa, mhzfhfrvwulgrz nhnt dyapw Peruvlfkhatmjemjii, jbuxvrwtp nln Ftctixtlhqigupwlx tf qrbckfrpg.
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